摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-10页 |
第一章 概述 | 第10-13页 |
第二章 东濮地区潜山地层地质及地球物理特征 | 第13-23页 |
·中生界(M_Z) | 第13-16页 |
·概况 | 第13-14页 |
·地层地质特征及测井特征 | 第14-15页 |
·岩心分析情况 | 第15-16页 |
·油气显示与井漏情况 | 第16页 |
·上古生界 | 第16-19页 |
·概况 | 第16页 |
·地层地质特征及测井特征 | 第16-17页 |
·油气显示情况 | 第17-19页 |
·下古生界 | 第19-22页 |
·概况 | 第19-20页 |
·地层地质特征及测井特征 | 第20页 |
·岩性分析数据 | 第20-21页 |
·油气显示情况 | 第21-22页 |
·太古界震旦系 | 第22-23页 |
·概况 | 第22页 |
·地层剖面及测井特征 | 第22-23页 |
第三章 砂泥岩储集层模型及储层“四性”参数计算方法 | 第23-28页 |
·概述 | 第23-24页 |
·复杂岩性解释处理方法 | 第24-27页 |
·解释模型的建立 | 第24页 |
·解释方法 | 第24-27页 |
·解释方法评价 | 第27页 |
·测井油气评价系统(LOGES) | 第27-28页 |
第四章 碳酸储层模型及“四性”参数计算方法 | 第28-46页 |
·碳酸盐岩储集层的基本特征 | 第28-32页 |
·岩石骨架及主要的物理性质 | 第28页 |
·碳酸盐岩储集空间的基本类型 | 第28-29页 |
·碳酸盐岩储集空间的特性 | 第29页 |
·孔隙发育的控制因素和分布规律 | 第29-30页 |
·裂缝发育的控制因素和分布规律 | 第30页 |
·碳酸盐岩储集层的孔隙空间分类 | 第30-32页 |
·裂缝性储集层的测井响应 | 第32-36页 |
·电阻率测井 | 第32-33页 |
·地层倾角测井 | 第33-34页 |
·声波测井 | 第34-35页 |
·放射性测井 | 第35-36页 |
·井温 | 第36页 |
·洞穴的测井响应 | 第36页 |
·测井新技术识别裂缝和洞穴 | 第36-37页 |
·地层微电阻率扫描成像测井FMI/EMI | 第36-37页 |
·声波成像 | 第37页 |
·根据测井资料综合分析裂缝 | 第37-41页 |
·综合分析的一般方法 | 第37页 |
·交会图法 | 第37-38页 |
·岩石孔隙结构指数法 | 第38-39页 |
·骨架指数法 | 第39-40页 |
·电阻率侵入校正差比法 | 第40页 |
·综合判断裂缝小结 | 第40-41页 |
·碳酸盐岩地层解释模型及四性参数计算 | 第41-44页 |
·测井解释模型的选择 | 第41-42页 |
·泥质含量的计算 | 第42页 |
·岩性分析 | 第42页 |
·孔隙度计算 | 第42页 |
·渗透率计算 | 第42-43页 |
·饱和度计算 | 第43页 |
·裂缝状态及裂缝孔隙度的双侧向计算方法 | 第43-44页 |
·碳酸盐岩储层的流体识别的方法 | 第44-46页 |
第五章 方法应用及潜山评价 | 第46-65页 |
·文卫潜山带 | 第46-58页 |
·文古2 井的测井解释评价 | 第47-55页 |
·文古1 井测井解释评价 | 第55-56页 |
·明古1 井测井解释评价 | 第56页 |
·文卫潜山带综合评价 | 第56-58页 |
·庆祖潜山带 | 第58-61页 |
·庆古1 井测井解释评价 | 第59-60页 |
·庆古2 井测井解释评价 | 第60页 |
·庆祖潜山带测井综合评价 | 第60-61页 |
·马厂潜山带 | 第61-63页 |
·马古5 井测井解释评价 | 第61页 |
·马古6 井测井解释评价 | 第61-62页 |
·马厂潜山带测井综合评价 | 第62-63页 |
·毛4 井的测井解释评价 | 第63-65页 |
第六章 储层潜力分析 | 第65-73页 |
·中生界 | 第65页 |
·上古生界 | 第65-67页 |
·下古生界 | 第67-68页 |
·试油建议 | 第68-73页 |
第七章 潜山井测井系列优选 | 第73-81页 |
·常规测井系列 | 第73-74页 |
·岩性测井系列 | 第73页 |
·电阻率测井系列 | 第73-74页 |
·孔隙度岩性系列 | 第74页 |
·新测井技术 | 第74-80页 |
·地层倾角(HDT)测井 | 第74页 |
·地层微电阻率成像测井(FMI 或 EMI) | 第74-76页 |
·核磁共振测井(CMR 或 MRIL) | 第76-78页 |
·变密度测井(VDL) | 第78页 |
·偶极横波成像测井(DSI) | 第78-80页 |
·模块式动态地层测试器(MDT) | 第80页 |
·小结 | 第80-81页 |
结论 | 第81-82页 |
参考文献 | 第82-84页 |
致谢 | 第84页 |