| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 1 绪论 | 第11-24页 |
| 1．1 概述 | 第11页 |
| 1．2 逆变电阻焊电源发展现状 | 第11-12页 |
| 1．3 电阻焊微机控制系统现状 | 第12-14页 |
| 1．4 过程及质量监控方法 | 第14-21页 |
| 1．4．1 传统的点焊质量监控方法 | 第14-18页 |
| 1．4．2 质量监控方法的新进展 | 第18-21页 |
| 1．5 点焊过程及质量控制发展的新趋势 | 第21-22页 |
| 1．6 本课题的研究内容及意义 | 第22-24页 |
| 2 主电路原理及控制模型 | 第24-31页 |
| 2．1 主电路组成及工作原理 | 第24-25页 |
| 2．1．1 主电路的组成 | 第24-25页 |
| 2．1．2 主电路的工作原理 | 第25页 |
| 2．2 点焊循环过程 | 第25-26页 |
| 2．3 点焊电流及电极间电压信号的检测原理及流程图 | 第26-27页 |
| 2．3．1 检测原理 | 第27页 |
| 2．3．2 检测系统工作原理流程图 | 第27页 |
| 2．4 焊接电流与电极间电压有效值算法 | 第27-30页 |
| 2．5 系统主要功能与实现指标设计 | 第30-31页 |
| 3 硬件设计 | 第31-46页 |
| 3．1 点焊过程控制对微机控制系统的要求 | 第31页 |
| 3．2 80C196KC硬件设计 | 第31-33页 |
| 3．3 硬件电路基本组成 | 第33-46页 |
| 3．3．1 资源分配及地址译码 | 第34-35页 |
| 3．3．2 输入通道模块 | 第35-39页 |
| 3．3．3 输出通道模块 | 第39-40页 |
| 3．3．4 键盘显示电路模块 | 第40-45页 |
| 3．3．5 报警模块 | 第45页 |
| 3．3．6 电源模块 | 第45-46页 |
| 4 软件设计 | 第46-56页 |
| 4．1 片内RAM地址分配 | 第46页 |
| 4．2 主程序流程 | 第46-48页 |
| 4．3 中断服务程序 | 第48页 |
| 4．4 数据采样及处理程序 | 第48-52页 |
| 4．4．1 参数采样 | 第48-49页 |
| 4．4．2 数据处理 | 第49-52页 |
| 4．5 预压和维持程序 | 第52-53页 |
| 4．6 系统自检程序 | 第53-56页 |
| 4．6．1 CPU的自检 | 第54-55页 |
| 4．6．2 片外RAM、ROM的自检 | 第55-56页 |
| 5 系统抗干扰设计 | 第56-62页 |
| 5．1 干扰源及干扰途径 | 第56-57页 |
| 5．1．1 网压变化引起的干扰 | 第56页 |
| 5．1．2 焊接现场的电磁干扰 | 第56-57页 |
| 5．1．3 测控系统自身的干扰 | 第57页 |
| 5．2 硬件角度的抗干扰设计 | 第57-59页 |
| 5．3 印刷板角度的抗干扰设计 | 第59-60页 |
| 5．4 软件方面的抗干扰设计 | 第60-62页 |
| 5．4．1 采用系统自校程序 | 第60页 |
| 5．4．2 采用空指令减少软件失误 | 第60-61页 |
| 5．4．3 使用WATCHDOG监视定时器 | 第61页 |
| 5．4．4 设置软件陷阱 | 第61-62页 |
| 6 系统硬件、软件的调试 | 第62-66页 |
| 6．1 实验条件 | 第62-63页 |
| 6．2 硬件的调试 | 第63页 |
| 6．2．1 键盘显示的调试 | 第63页 |
| 6．2．2 AD/DA的调试 | 第63页 |
| 6．2．3 I/O的调试 | 第63页 |
| 6．3 应用软件的调试 | 第63-66页 |
| 7 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 附录A 键盘显示调试程序 | 第70-78页 |
| 附录B AD/DA调试程序 | 第78-81页 |
| 在学研究成果 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82页 |