首页--工业技术论文--电工技术论文--电气测量技术及仪器论文--频率、波形参数的测量及仪表论文

基于VHDL和SoC技术的等精度自适应测频系统

目录第1-5页
摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第7-10页
 1.1 引言第7页
 1.2 EDA技术发展综述第7-8页
 1.3 本文的研究背景及其意义第8-9页
 1.4 课题主要完成的工作第9-10页
第二章 VHDL语言及SOC技术第10-22页
 2.1 概述第10页
 2.2 VHDL语言第10-15页
  2.2.1 VHDL语言简介第10-11页
  2.2.2 VHDL与Verilog HDL第11-12页
  2.2.3 VHDL语言的特点第12-13页
  2.2.4 VHDL程序设计第13-15页
 2.3 SoC技术第15-19页
  2.3.1 SoC概述第15-16页
  2.3.2 SoC技术的优缺点第16-17页
  2.3.3 简单设计流程第17-19页
 2.4 Quartus II简介第19-21页
 2.5 本章小结第21-22页
第三章 频率测量第22-29页
 3.1 常用频率测量方法及其误差分析第22-28页
  3.1.1 直接测频法第22-24页
  3.1.2 利用电路的频率特性进行测量第24-25页
  3.1.3 多周期同步法测量第25-28页
 3.2 等精度自适应测频方法第28页
 3.3 本章小结第28-29页
第四章 等精度自适应测频系统的硬件设计第29-39页
 4.1 单片机的选型第29-31页
  4.1.1 单片机的选型原则第29-30页
  4.1.2 系统对资源的要求第30-31页
 4.2 可编程逻辑器件选型第31-38页
  4.2.1 CPLD与FPGA的逻辑结构、互连结构和编程工艺的比较第31-34页
  4.2.2 CPLD与FPGA使用性能的比较第34-35页
  4.2.3 CPLD器件的选用第35-38页
 4.3 系统的原理图第38页
 4.4 本章小结第38-39页
第五章 等精度自适应测频系统的软件设计第39-57页
 5.1 软件设计的原则第39页
 5.2 VHDL程序设计第39-54页
  5.2.1 EDA工具的选用第39-40页
  5.2.2 软件的编制第40-54页
 5.3 单片机程序设计第54-55页
 5.4 系统说明第55页
 5.5 仿真测试第55-56页
 5.6 本章小结第56-57页
第六章 课题的总结与展望第57-60页
 6.1 课题的总结第57-58页
 6.2 展望第58-60页
参考文献第60-63页
致谢第63-64页
发表论文第64-65页
附录 VHDL部分程序第65-71页
学位论文评阅及答辩情况表第71页

论文共71页,点击 下载论文
上一篇:供暖燃料耗量与气象条件相随性研究及其软件开发
下一篇:冠醚对肾上腺素分子识别的电化学表征及理论研究