| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| 英文摘要 | 第7-8页 |
| 主要工作及创新点 | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-21页 |
| §1．1 引言 | 第9页 |
| §1．2 焦距测量的常用方法 | 第9-19页 |
| §1．2．1 Moiré条纹同向法测量原理 | 第9-11页 |
| §1．2．2 CCD放大率法焦距测量 | 第11-13页 |
| §1．2．3 光栅二次调焦测量透镜焦距的方法 | 第13-15页 |
| §1．2．4 利用Talbot像对谱面的对称性原理测量透镜焦距 | 第15-19页 |
| §1．3 本课题的背景及任务 | 第19-20页 |
| 参考文献 | 第20-21页 |
| 第二章 Talbot效应和Moiré条纹技术 | 第21-28页 |
| §2．1 引言 | 第21页 |
| §2．2 Talbot效应 | 第21-24页 |
| §2．2．1 Talbot效应的发展 | 第21页 |
| §2．2．2 Ronchi光栅的Talbot效应原理 | 第21-24页 |
| §2．2．2．1 平面波照射情况 | 第22页 |
| §2．2．2．2 球面波照射情况 | 第22-24页 |
| §2．3 Moiré条纹技术 | 第24-27页 |
| §2．3．1 Moiré条纹的应用发展 | 第24-25页 |
| §2．3．2 Moiré条纹原理 | 第25-27页 |
| 参考文献 | 第27-28页 |
| 第三章 测量原理与装置 | 第28-37页 |
| §3．1 引言 | 第28页 |
| §3．2 测量原理 | 第28-31页 |
| §3．2．1 原理分析 | 第28-30页 |
| §3．2．2 系统框架 | 第30-31页 |
| §3．3 测量装置 | 第31-36页 |
| §3．3．1 结构框架 | 第31页 |
| §3．3．2 二维扫描机构 | 第31-34页 |
| §3．3．2．1 可行性分析 | 第32-34页 |
| §3．3．2．2 扫描系统介绍 | 第34页 |
| §3．3．3 平面镜反射结构 | 第34-36页 |
| 参考文献 | 第36-37页 |
| 第四章 测量软件 | 第37-61页 |
| §4．1 引言 | 第37页 |
| §4．2 Moiré条纹图像的获取 | 第37-41页 |
| §4．2．1 概述 | 第37页 |
| §4．2．2 主要步骤 | 第37-41页 |
| §4．3 待测透镜焦距值的计算 | 第41-56页 |
| §4．3．1 傅里叶变换的实现 | 第42-51页 |
| §4．3．1．1 相关概念及性质 | 第42-44页 |
| §4．3．1．2 傅里叶变换的算法 | 第44-51页 |
| §4．3．2 频谱点坐标的确定 | 第51-56页 |
| §4．3．2．1 常规算法的精度极限 | 第51-53页 |
| §4．3．2．2 改进算法的原理 | 第53-55页 |
| §4．3．2．3 改进算法的精度极限 | 第55-56页 |
| §4．4 维扫描的位置控制 | 第56-60页 |
| §4．4．1 概述 | 第56页 |
| §4．4．2 具体实现 | 第56-60页 |
| 参考文献 | 第60-61页 |
| 第五章 焦距检测仪的使用说明 | 第61-70页 |
| §5．1 引言 | 第61页 |
| §5．2 测量环境 | 第61-62页 |
| §5．3 机构调整 | 第62-63页 |
| §5．3．1 准直扩束系统的调整 | 第62-63页 |
| §5．3．2 光栅位置的调整 | 第63页 |
| §5．4 系统定标 | 第63-64页 |
| §5．5 测试软件的使用 | 第64-69页 |
| §5．5．1 用户界面 | 第64-65页 |
| §5．5．2 操作步骤 | 第65-69页 |
| 参考文献 | 第69-70页 |
| 第六章 结论与展望 | 第70-75页 |
| §6．1 引言 | 第70页 |
| §6．2 误差分析和测量结果 | 第70-73页 |
| §6．3 改进与展望 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-75页 |
| 附录 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第75页 |