| 第一章 绪论 | 第1-28页 |
| §1．1 分子离子光谱的研究背景、历史和现状 | 第14-17页 |
| §1．1．1 分子离子光谱的发展历史 | 第14-16页 |
| §1．1．2 分子离子光谱的技术现状 | 第16-17页 |
| §1．2 分子能级理论与计算的背景、历史和现状 | 第17-19页 |
| §1．2．1 分子能级理论与计算的背景历史 | 第17-18页 |
| §1．2．2 分子能级计算的发展现状 | 第18-19页 |
| §1．3 本文的研究背景、目的和内容 | 第19-23页 |
| §1．3．1 H_2O~+光谱的研究 | 第19-21页 |
| §1．3．2 N_2~+光谱的研究 | 第21-22页 |
| §1．3．3 高灵敏光谱技术的研究 | 第22-23页 |
| 参考文献 | 第23-28页 |
| 第二章 光外差磁旋转速度调制吸收光谱实验 | 第28-48页 |
| §2．1 光外差磁旋转速度调制光谱技术 | 第28-36页 |
| §2．1．1 实验原理 | 第28-30页 |
| §2．1．2 实验装置 | 第30-32页 |
| §2．1．3 提高OH-MR-VMS探测灵敏度的方法 | 第32-33页 |
| §2．1．4 谱线线型的理论研究及经验公式 | 第33-36页 |
| §2．2 激光绝对波长的校准及其实现方法 | 第36-42页 |
| §2．2．1 Coherent 899-29的自动波长校准 | 第37页 |
| §2．2．2 以I_2谱为参考的小范围偏移校准方法 | 第37-39页 |
| §2．2．3 波长校准软件WaveReader | 第39-42页 |
| §2．3 离子分子谱线的测量与甄别 | 第42-46页 |
| §2．3．1 实验谱线的测量 | 第42-43页 |
| §2．3．2 离子分子谱线的线型 | 第43-44页 |
| §2．3．3 通过改变实验条件甄别离子分子的谱线 | 第44-46页 |
| §2．4 结论 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-48页 |
| 第三章 含微扰的有效哈密顿量 | 第48-65页 |
| §3．1 微扰论概述 | 第48-50页 |
| §3．2 Renner-Teller效应 | 第50-52页 |
| §3．3 N_2~+的有效哈密顿量及其微扰项 | 第52-56页 |
| §3．4 H_2O~+的振转能级结构 | 第56-59页 |
| §3．4．1 含Renner-Teller效应的A~2A_1电子态能级结构 | 第56-58页 |
| §3．4．2 X~2B_1电子态的非对称陀螺模型 | 第58-59页 |
| §3．5 H_2O~+有效哈密顿量的唯象处理 | 第59-62页 |
| §3．6 结论 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 第四章 N_2~+的吸收光谱及微扰分析 | 第65-77页 |
| §4．1 B~2∑_u~+、A~2Π_u和X~2∑_g~+电子态振转光谱 | 第65-73页 |
| §4．2 振动微扰分析和B~2∑_u~+、A~2Π_u电子态微扰常数 | 第73-75页 |
| §4．3 结论 | 第75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 第五章 H_2O~+吸收光谱的分析与处理 | 第77-91页 |
| §5．1 H_2O~+振转谱线的标识 | 第77-80页 |
| §5．2 有效分子常数的拟合 | 第80-82页 |
| §5．3 Renner-Teller效应及振转分析 | 第82-85页 |
| §5．4 谱线强度与磁场的关系 | 第85-87页 |
| §5．5 同位素光谱的标识与分析 | 第87-88页 |
| §5．6 结论 | 第88-90页 |
| 参考文献 | 第90-91页 |
| 第六章 H_2O~+振转光谱及跃迁强度的从头计算 | 第91-129页 |
| §6．1 从头计算概述 | 第91-99页 |
| §6．1．1 从头计算的方法 | 第92-94页 |
| §6．1．2 MRD-Cl方法 | 第94-96页 |
| §6．1．3 计算振转能级的RENNER方法 | 第96-99页 |
| §6．2 H_2O~+电子态的MRD-Cl从头计算 | 第99-109页 |
| §6．2．1 空间坐标及原子基矢的选取 | 第100-101页 |
| §6．2．2 A~2A_1和X~2B_1态的电子偶极矩和跃迁矩 | 第101-109页 |
| §6．3 H_2O~+振转跃迁频率及强度的RENNER计算 | 第109-124页 |
| §6．3．1 电子偶极矩和跃迁矩解析表达 | 第109-113页 |
| §6．3．2 电子势能的解析表达 | 第113-114页 |
| §6．3．3 跃迁频率及谱线强度 | 第114-120页 |
| §6．3．4 振动跃迁矩 | 第120-123页 |
| §6．3．5 同位素分子的计算 | 第123-124页 |
| §6．4 结论 | 第124-125页 |
| 参考文献 | 第125-129页 |
| 第七章 磁旋转腔增强光谱技术探索 | 第129-150页 |
| 7．1 原理 | 第129-134页 |
| 7．1．1 磁旋转技术 | 第129-131页 |
| 7．1．2 腔增强技术 | 第131-134页 |
| 7．2 实验 | 第134-142页 |
| 7．2．1 磁旋转腔增强实验装置 | 第134-136页 |
| 7．2．2 环形谐振腔 | 第136-138页 |
| 7．2．3 谐振腔模式匹配 | 第138-140页 |
| 7．2．4 谱线线型的理论计算 | 第140-142页 |
| 7．3 MR-CEAS光谱的测量结果 | 第142-147页 |
| 7．3．1 I_2谱线的测量 | 第142-144页 |
| 7．3．2 NO_2谱线的测量 | 第144-145页 |
| 7．3．3 O_2谱线的测量 | 第145-147页 |
| 7．4 结论与展望 | 第147-148页 |
| 参考文献 | 第148-150页 |
| 第八章 总结 | 第150-153页 |
| §8．1 本文的主要工作和创新 | 第150-152页 |
| §8．2 本文的应用和发展前景 | 第152-153页 |
| 附录A 论文中的物理常数及单位换算 | 第153-155页 |
| 附录B 误差分析中的基本概念 | 第155-157页 |
| 附录C WaveReader软件流程图 | 第157-159页 |
| 附录D MRD-CI程序模块流程图 | 第159-160页 |
| 附录E RENNER程序能级标识解读 | 第160-164页 |
| 附录F 博士期间的其他工作 | 第164-174页 |
| 一、 双原子分子光谱计算和拟合程序 | 第164-168页 |
| 二、 腔增强的峰值检测采样程序 | 第168-169页 |
| 三、 腔增强的峰值检测采样电路 | 第169-170页 |
| 四、 0-1 GHz宽带低噪声弱信号放大器 | 第170-171页 |
| 五、 1 GHz宽带光电探测器 | 第171-172页 |
| 六、 声光晶体驱动电源 | 第172-174页 |
| 附录G 博士期间发表的相关论文 | 第174-176页 |
| 致谢 | 第176页 |
