| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-27页 |
| ·X射线多晶衍射研究的发展 | 第14页 |
| ·X射线衍射物相定性分析 | 第14-18页 |
| ·X射线衍射法物相定性分析原理 | 第15-16页 |
| ·传统物相定性分析方法 | 第16-17页 |
| ·全谱匹配物相定性分析 | 第17-18页 |
| ·全谱匹配方法概要 | 第17页 |
| ·数据库 | 第17-18页 |
| ·X射线衍射定性分析的特点 | 第18页 |
| ·X射线衍射物相定量分析 | 第18-25页 |
| ·X射线定量相分析原理 | 第18-20页 |
| ·X射线定量相分析法 | 第20-25页 |
| ·内标法 | 第20页 |
| ·外标法 | 第20-21页 |
| ·K值法(基体清洗法) | 第21页 |
| ·绝热法(自清洗法) | 第21-22页 |
| ·无标样法 | 第22-23页 |
| ·增量法 | 第23-24页 |
| ·Rietveld全谱图拟合法 | 第24-25页 |
| ·本文的研究设想 | 第25-27页 |
| ·研究意义 | 第25-26页 |
| ·研究内容 | 第26-27页 |
| 第二章 RIETVELD方法研究 | 第27-35页 |
| ·前言 | 第27-28页 |
| ·全谱拟合的原理 | 第28-31页 |
| ·各衍射峰20位置的计算 | 第28页 |
| ·衍射峰的结构因子和强度分布的计算 | 第28-29页 |
| ·整个衍射谱的计算 | 第29页 |
| ·用最小二乘法作拟合 | 第29页 |
| ·拟合优劣的判断 | 第29-31页 |
| ·峰形函数G_k | 第31-32页 |
| ·峰宽函数H_k | 第32-33页 |
| ·本底函数Y_(ib) | 第33页 |
| ·择优取向校正 | 第33-34页 |
| ·代码系统 | 第34页 |
| ·Rietveld方法的应用 | 第34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 第三章 RIETVELD全谱图拟合法测定模拟粉尘样品物相含量的研究 | 第35-57页 |
| ·前言 | 第35-36页 |
| ·实验准备 | 第36-40页 |
| ·试样制备 | 第36-38页 |
| ·测定条件的选择 | 第38-39页 |
| ·数据处理 | 第39-40页 |
| ·四元混合模拟粉尘样品物相含量的测定 | 第40-45页 |
| ·实验试样与仪器 | 第41页 |
| ·样品的处理 | 第41页 |
| ·衍射仪工作条件 | 第41页 |
| ·结果与讨论 | 第41-45页 |
| ·五元混合模拟粉尘样品物相含量的测定 | 第45-49页 |
| ·实验试样与仪器 | 第45页 |
| ·样品的处理 | 第45页 |
| ·衍射仪工作条件 | 第45页 |
| ·结果与讨论 | 第45-49页 |
| ·六元混合模拟粉尘样品物相含量的测定 | 第49-55页 |
| ·实验试样与仪器 | 第50页 |
| ·样品的处理 | 第50页 |
| ·衍射仪工作条件 | 第50页 |
| ·结果与讨论 | 第50-55页 |
| ·小结 | 第55-57页 |
| 第四章 RIETVELD全谱图拟合法测定非晶相含量的研究 | 第57-66页 |
| ·前言 | 第57-58页 |
| ·实验部分 | 第58-64页 |
| ·实验试样与仪器 | 第58页 |
| ·样品的处理 | 第58页 |
| ·衍射仪工作条件 | 第58页 |
| ·结果与讨论 | 第58-64页 |
| ·精密度实验 | 第64页 |
| ·小结 | 第64-66页 |
| 第五章 RIETVELD全谱图拟合法测定粉尘中游离SIO_2含量的研究 | 第66-74页 |
| ·前言 | 第66-68页 |
| ·实验部分 | 第68-72页 |
| ·实验试样与仪器 | 第68页 |
| ·样品的处理 | 第68页 |
| ·衍射仪工作条件 | 第68-69页 |
| ·结果与讨论 | 第69-72页 |
| ·回收率的测定 | 第72页 |
| ·小结 | 第72-74页 |
| 第六章 结论 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 攻读学位期间发表论文情况 | 第84页 |
