中文摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第一章 引言 | 第10-25页 |
·铁电材料简介 | 第10-15页 |
·电介质的基本概念 | 第10-11页 |
·铁电材料的发展和应用 | 第11-13页 |
·铁电薄膜的界面效应 | 第13-14页 |
·BTO 材料及其研究进展 | 第14-15页 |
·复合氧化物薄膜 | 第15-16页 |
·漏电机制研究 | 第16-19页 |
·本论文的研究意义和内容 | 第19-21页 |
参考文献 | 第21-25页 |
第二章 (BaTiO_3)_(1-x):(Sm_2O_3)_x复合薄膜的制备工艺 | 第25-34页 |
·脉冲激光沉积简介 | 第25-27页 |
·脉冲激光沉积的原理和特点 | 第25-26页 |
·PLD 系统的结构 | 第26-27页 |
·实验过程 | 第27-33页 |
·陶瓷靶材的制备 | 第27-31页 |
·(BaTiO_3)_(1-x):(Sm_2O_3)_x薄膜生长 | 第31页 |
·电极的制备 | 第31-33页 |
参考文献 | 第33-34页 |
第三章 (BaTiO_3)_(1-x):(Sm_2O_3)_x复合薄膜的表征方法 | 第34-40页 |
·X 射线衍射 | 第34-35页 |
·膜厚分析 | 第35页 |
·原子力显微镜 | 第35-36页 |
·扫描电子显微镜和能量色散 X 射线分析 | 第36页 |
·透射电子显微镜 | 第36-37页 |
·电学性质测试 | 第37-39页 |
参考文献 | 第39-40页 |
第四章 (BaTiO_3)_(1-x):(Sm_2O_3)_x复合薄膜的微结构 | 第40-53页 |
·引言 | 第40页 |
·结果与分析 | 第40-50页 |
·X 射线衍射分析 | 第40-44页 |
·原子力显微镜分析 | 第44-45页 |
·扫描电子显微镜和 EDX 分析 | 第45-48页 |
·透射电子显微镜分析 | 第48-50页 |
·本章小结 | 第50-51页 |
参考文献 | 第51-53页 |
第五章 (BaTiO_3)_(1-x):(Sm_2O_3)_x复合薄膜的垂直界面效应 | 第53-65页 |
·引言 | 第53页 |
·结果与讨论 | 第53-62页 |
·介电性质 | 第53-57页 |
·漏电机制 | 第57-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-65页 |
第六章 结论 | 第65-67页 |
硕士期间发表的学术论文 | 第67-68页 |
致谢 | 第68-70页 |