| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| ·研究背景与意义 | 第8页 |
| ·相关技术的发展与现状 | 第8-12页 |
| ·磁粉探伤技术的发展与现状 | 第8-9页 |
| ·计算机数字图像处理技术发展与现状 | 第9-11页 |
| ·磁粉探伤自动化实现技术发展与现状 | 第11-12页 |
| ·课题来源与研究内容 | 第12-13页 |
| ·论文组织结构 | 第13-15页 |
| 2 磁粉探伤缺陷识别自动化系统总体方案设计 | 第15-20页 |
| ·系统整体需求分析 | 第15页 |
| ·原有荧光磁粉探伤系统存在的问题分析 | 第15页 |
| ·荧光磁粉探伤自动化缺陷识别系统需求设计 | 第15页 |
| ·磁粉探伤缺陷识别自动化系统总体方案设计 | 第15-19页 |
| ·系统硬件结构方案设计 | 第15-17页 |
| ·系统软件开发环境与算法实现方案设计 | 第17-19页 |
| ·软件开发环境与工具的选择 | 第17-18页 |
| ·软件流程总体设计 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 3 荧光磁粉探伤磁痕图像的采集与分析 | 第20-29页 |
| ·荧光磁粉探伤技术原理 | 第20-22页 |
| ·图像采集 | 第22-25页 |
| ·图像采集系统构成 | 第22-23页 |
| ·图像系统工作过程 | 第23页 |
| ·图像数据传输方式 | 第23页 |
| ·影响图像采集质量的因素分析 | 第23-25页 |
| ·分辨率 | 第23-24页 |
| ·荧光磁悬液的黏度与浓度 | 第24-25页 |
| ·规范的磁化过程 | 第25页 |
| ·图像信息特征分析 | 第25-27页 |
| ·图像信息特征分析 | 第25-27页 |
| ·颜色差异分析 | 第25-26页 |
| ·形状差异分析 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-29页 |
| 4 图像处理模块设计与开发 | 第29-44页 |
| ·数字图像的表示 | 第29页 |
| ·基于信息特征的图像分割处理 | 第29-37页 |
| ·基于颜色特征差异的图像分割 | 第30-32页 |
| ·仿Photoshop色彩范围选择功能的彩色图像分割算法 | 第30-31页 |
| ·关键问题软件实现 | 第31-32页 |
| ·基于梯度特征差异的图像分割 | 第32-37页 |
| ·荧光磁粉图像梯度特征提取 | 第33页 |
| ·伪信号的去除 | 第33页 |
| ·目标信息的分割提取 | 第33-34页 |
| ·关键问题的软件实现 | 第34-37页 |
| ·基于数学形态学的图像去噪与还原 | 第37-43页 |
| ·数学形态学 | 第37-41页 |
| ·腐蚀与膨胀 | 第37-39页 |
| ·开运算与闭运算 | 第39-41页 |
| ·图像去噪 | 第41-42页 |
| ·图像还原 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 5 缺陷识别模块设计与开发 | 第44-53页 |
| ·真伪缺陷特征分析 | 第44页 |
| ·目标区域提取 | 第44-47页 |
| ·区域生长理论 | 第44-45页 |
| ·单个可疑连通区域的提取 | 第45-47页 |
| ·基于优化区域生长法的连通域提取算法 | 第45-46页 |
| ·关键问题软件实现 | 第46-47页 |
| ·伤痕缺陷识别 | 第47-51页 |
| ·基于伤痕特征的缺陷识别算法 | 第47-48页 |
| ·关键问题软件实现 | 第48-51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 6 系统调试与运行 | 第53-61页 |
| ·系统调试基本配置 | 第53-54页 |
| ·OpenCV计算机视觉库的运用 | 第54-56页 |
| ·OpenCV库的构成 | 第54页 |
| ·OpenCV函数体系 | 第54页 |
| ·OpenCV常用数据结构 | 第54-55页 |
| ·OpenCV与VC的融合 | 第55-56页 |
| ·基于OpenCV与VC环境的系统调试 | 第56-59页 |
| ·基于颜色特征算法的调试与分析 | 第56-58页 |
| ·基于梯度特征算法的调试与分析 | 第58-59页 |
| ·系统运行情况 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 7 总结与展望 | 第61-63页 |
| ·研究总结 | 第61页 |
| ·研究展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 附录A | 第68-69页 |
| 附录B | 第69页 |