| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-22页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·视觉测量系统 | 第11-12页 |
| ·系统构成 | 第11页 |
| ·视觉测量关键技术 | 第11-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-17页 |
| ·计算机视觉 | 第12-13页 |
| ·测量系统 | 第13页 |
| ·红外图像测温 | 第13-14页 |
| ·立体视觉测量 | 第14-15页 |
| ·摄像机标定 | 第15页 |
| ·平面视觉测量 | 第15-17页 |
| ·应用 | 第17-19页 |
| ·红外成像及测温的应用 | 第17-18页 |
| ·立体视觉测量 | 第18页 |
| ·平面视觉测量 | 第18-19页 |
| ·论文的主要内容及创新 | 第19-22页 |
| 2 理论基础 | 第22-38页 |
| ·图像的获取 | 第22-23页 |
| ·红外图像测温的原理 | 第23-26页 |
| ·基本理论 | 第23-24页 |
| ·红外焦平面非均匀性 | 第24-25页 |
| ·红外图像测温标定 | 第25-26页 |
| ·可见光视觉测量 | 第26-36页 |
| ·摄像机内部参数与外部参数 | 第27-28页 |
| ·摄像机内部参数的标定 | 第28-30页 |
| ·平面物体测量 | 第30-32页 |
| ·双目立体视觉测量的基本原理 | 第32-36页 |
| ·本章小结 | 第36-38页 |
| 3 摄像机内部辐射对红外图像质量影响的消除方法 | 第38-50页 |
| ·引言 | 第38页 |
| ·摄像机内部辐射 | 第38-40页 |
| ·两点校正方法消除内部辐射的作用及局限 | 第40-41页 |
| ·消除内部辐射影响的方法 | 第41-44页 |
| ·两点校正数据的拟合多项式 | 第41-42页 |
| ·选择多项式次数 | 第42-44页 |
| ·消除内部辐射影响的步骤 | 第44页 |
| ·实验 | 第44-48页 |
| ·小结 | 第48-50页 |
| 4 摄像机内部辐射对红外测温影响的消除方法 | 第50-60页 |
| ·引言 | 第50-51页 |
| ·辐射模型 | 第51-52页 |
| ·内部辐射影响的消除方法 | 第52-55页 |
| ·标定 | 第52-53页 |
| ·摄像机内部辐射影响的补偿数据 | 第53-55页 |
| ·标定步骤 | 第55页 |
| ·温度计算方法 | 第55页 |
| ·补偿数据的移植方法 | 第55-57页 |
| ·实验 | 第57-58页 |
| ·小结 | 第58-60页 |
| 5 基于三轴加速度传感的立体视觉测量方法 | 第60-74页 |
| ·引言 | 第60-61页 |
| ·摄像机旋转形成两视点立体视觉 | 第61-64页 |
| ·用旋转角度计算摄像机坐标系之间的旋转矩阵和平移向量 | 第64-65页 |
| ·旋转轴的位置和方向 | 第65-68页 |
| ·四元组 | 第65-66页 |
| ·求旋转轴的方向 | 第66-67页 |
| ·求旋转轴的位置 | 第67-68页 |
| ·对应点的匹配 | 第68-69页 |
| ·极线 | 第68-69页 |
| ·匹配 | 第69页 |
| ·摄像机标定及三维坐标的计算过程 | 第69-70页 |
| ·摄像机标定过程 | 第69-70页 |
| ·三维坐标的计算过程 | 第70页 |
| ·实验 | 第70-73页 |
| ·小结 | 第73-74页 |
| 6 材料腐蚀产物的测量方法 | 第74-96页 |
| ·前言 | 第74页 |
| ·摄像机标定 | 第74-77页 |
| ·基本原理 | 第74-77页 |
| ·标定与测量步骤 | 第77页 |
| ·图像分割法 | 第77-88页 |
| ·最小割图像分割法 | 第77-82页 |
| ·随机游走图像分割法 | 第82-84页 |
| ·PowerWaterShed 图像分割法 | 第84-88页 |
| ·腐蚀产物的检测及其种子的标注 | 第88-90页 |
| ·实验 | 第90-95页 |
| ·小结 | 第95-96页 |
| 7 总结 | 第96-98页 |
| 致谢 | 第98-100页 |
| 参考文献 | 第100-106页 |
| 附录 | 第106页 |
| A. 作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第106页 |
| B. 作者在攻读学位期间取得的科研成果目录 | 第106页 |