摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
目录 | 第6-8页 |
第一章 引言 | 第8-17页 |
·纳米粒子概述 | 第8-9页 |
·纳米材料的特殊结构特点 | 第9-11页 |
·表面效应 | 第9-10页 |
·体积效应 | 第10页 |
·量子尺寸效应 | 第10页 |
·宏观量子隧道效应 | 第10-11页 |
·纳米二氧化硅的性质及应用 | 第11-12页 |
·纳米二氧化硅的性质 | 第11页 |
·纳米二氧化硅的应用 | 第11-12页 |
·目前纳米二氧化硅的一些制备方法 | 第12-15页 |
·气相法 | 第12-13页 |
·沉淀法 | 第13页 |
·Sol-Gel法 | 第13-14页 |
·水热合成法 | 第14页 |
·超重力反应法 | 第14页 |
·微乳液反应法 | 第14-15页 |
·其他制备方法 | 第15页 |
·本论文研究概况 | 第15-17页 |
·本论文的研究依据及可行性 | 第15页 |
·本论文工作的主要内容 | 第15-17页 |
第二章 纳米二氧化硅的制备及表征 | 第17-20页 |
·主要仪器及试剂 | 第17页 |
·仪器设备 | 第17页 |
·试剂及原料 | 第17页 |
·硅溶胶各项性能指标的检测 | 第17-18页 |
·硅溶胶浓度的检测 | 第18页 |
·硅溶胶粒径的检测 | 第18页 |
·硅溶胶pH值和粘度的检测 | 第18页 |
·硅溶胶中平衡离子的检测 | 第18页 |
·改性硅溶胶的制备 | 第18页 |
·硅溶胶的胶体保护剂的选择 | 第18-19页 |
·反萃取剂的加入及形成水凝胶 | 第19页 |
·水凝胶的干燥及高温锻烧制得成品 | 第19页 |
·具体实验操作过程 | 第19页 |
·所得成品纳米二氧化硅粉的检测 | 第19-20页 |
·通过粒径仪检测其粒径的大小 | 第19页 |
·通过透射电镜观察其粒径形貌及分布 | 第19-20页 |
第三章 胶体保护剂及加入量、加入方法的选择 | 第20-23页 |
·硅溶胶的胶体保护剂的加入方法 | 第20页 |
·胶体保护剂的选择 | 第20-21页 |
·胶体保护剂NCMC用量对纳米二氧化硅粒径的影响 | 第21-22页 |
·结论 | 第22-23页 |
第四章 反萃取剂及不同硅溶胶对纳米SiO_2制备的影响 | 第23-28页 |
·反萃取剂异丙醇加入量对纳米二氧化硅粒径的影响 | 第23页 |
·水凝胶的加热温度对纳米二氧化硅粒径的影响 | 第23-24页 |
·不同种类的硅溶胶对纳米SiO_2粒径的影响 | 第24-25页 |
·不同浓度的硅溶胶对粒径的影响 | 第25-27页 |
·硅溶胶的pH值对纳米二氧化硅粒径的影响 | 第27页 |
·结论 | 第27-28页 |
结论 | 第28-29页 |
参考文献 | 第29-31页 |
附录 | 第31-32页 |
致谢 | 第32页 |