| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 引言 | 第5-7页 |
| 第一章 问题的提出 | 第7-11页 |
| 第一节 RFID产品简介 | 第7-8页 |
| 第二节 EEPROM简介 | 第8-10页 |
| 第三节 问题的提出 | 第10-11页 |
| 第二章 问题的描述与初步定位 | 第11-18页 |
| 第一节 工程样片的测试检查 | 第11-12页 |
| 第二节 主要失效 | 第12-14页 |
| 第三节 主要失效项分析 | 第14-18页 |
| 第三章 问题的分析与定位 | 第18-34页 |
| 第一节 棋盘格的写入 | 第18-19页 |
| 第二节 棋盘格的写后读出检查 | 第19-24页 |
| 第三节 逻辑"0"变"1"问题的分析与定位 | 第24-29页 |
| 第四节 异常存储单元的失效分析 | 第29-30页 |
| 第五节 异常BIT的电特性检查 | 第30-31页 |
| 第六节 异常BIT的物理结构检查 | 第31-33页 |
| 第七节 异常原因的定位 | 第33-34页 |
| 第四章 改进措施及效果确认 | 第34-43页 |
| 第一节 设计改进与工艺调整 | 第34-35页 |
| 第二节 改进效果确认 | 第35-41页 |
| 第三节 改进效果综述 | 第41-43页 |
| 第五章 总结与结论 | 第43-44页 |
| 致谢 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-46页 |