摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-18页 |
1.1 真空开关结构与发展趋势 | 第11-14页 |
1.1.1 引言 | 第11页 |
1.1.2 真空开关结构组成 | 第11-13页 |
1.1.3 真空开关国内外发展现状及趋势 | 第13-14页 |
1.2 真空开关操动机构及运动速度检测 | 第14-15页 |
1.3 真空开关操动机构分闸速度检测 | 第15-17页 |
1.3.1 光栅传感器测速法 | 第15-16页 |
1.3.2 外加电容分析法 | 第16-17页 |
1.4 本文研究内容 | 第17-18页 |
第二章 图像处理和边缘检测 | 第18-28页 |
2.1 图像 | 第18-19页 |
2.1.1 数字图像的定义 | 第18页 |
2.1.2 图像信息的重要性 | 第18-19页 |
2.2 数字图像处理研究的主要内容 | 第19-21页 |
2.2.1 图像分割 | 第19-20页 |
2.2.2 图像增强 | 第20-21页 |
2.2.3 图像变换 | 第21页 |
2.3 边缘检测技术概述 | 第21-23页 |
2.4 像素级边缘检测算子 | 第23-26页 |
2.4.1 Roberts算子 | 第23-24页 |
2.4.2 Sobel算子 | 第24页 |
2.4.3 Prewitt算子 | 第24-25页 |
2.4.4 Canny算子 | 第25-26页 |
2.5 传统像素级边缘检测算子的比较 | 第26-27页 |
本章小结 | 第27-28页 |
第三章 真空开关触头图像定位分析 | 第28-38页 |
3.1 分离拉弧试验 | 第28-29页 |
3.2 触头运动序列图像采集 | 第29-30页 |
3.3 触头图像特点 | 第30-31页 |
3.4 触头图像定位分析 | 第31-34页 |
3.4.1 基于SIFT和Harris角点检测的触头图像定位 | 第32-33页 |
3.4.2 基于Hough变换的触头图像定位 | 第33-34页 |
3.5 像素级动触头分闸速度计算 | 第34-37页 |
本章小结 | 第37-38页 |
第四章 二次多项式插值的触头运动速度检测 | 第38-51页 |
4.1 亚像素边缘检测概述 | 第38页 |
4.2 亚像素定位原理 | 第38-39页 |
4.3 亚像素定位算法分类 | 第39-41页 |
4.3.1 插值法 | 第40页 |
4.3.2 拟合法 | 第40页 |
4.3.3 基于小波变换的亚像素边缘检测 | 第40-41页 |
4.4 二次多项式插值的亚像素边缘检测 | 第41-49页 |
4.4.1 算法原理 | 第42-45页 |
4.4.2 亚像素边缘点直线拟合 | 第45-47页 |
4.4.3 操动机构分闸速度计算 | 第47-49页 |
本章小结 | 第49-51页 |
第五章 基于灰度矩的亚像素级速度检测 | 第51-71页 |
5.1 图像的矩特征 | 第51页 |
5.2 边缘检测中的矩特征 | 第51-55页 |
5.2.1 Hu矩 | 第51-52页 |
5.2.2 Zernike矩 | 第52-53页 |
5.2.3 空间矩 | 第53-55页 |
5.3 基于灰度矩的触头运动速度检测 | 第55-64页 |
5.3.1 算法原理 | 第56-58页 |
5.3.2 亚像素边缘点提取 | 第58-59页 |
5.3.3 亚像素边缘点直线拟合 | 第59-62页 |
5.3.4 操动机构分闸速度计算 | 第62-64页 |
5.4 真空开关分闸速度检测方法分析 | 第64-70页 |
5.4.1 触头定位精度分析 | 第64-66页 |
5.4.2 分闸速度计算分析 | 第66-70页 |
本章小结 | 第70-71页 |
结论 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-74页 |
致谢 | 第74页 |