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基于ISO14443协议非接触式智能卡的边信道攻击研究及实现

摘要第5-6页
abstract第6-7页
第一章 绪论第12-19页
    1.1 研究背景及意义第12-14页
    1.2 边信道攻击研究发展概述第14-17页
        1.2.1 边信道攻击的研究发展历史第14-16页
        1.2.2 国内外研究现状第16-17页
    1.3 本文的研究内容与结构安排第17-19页
第二章 非接触式智能卡的相关研究第19-36页
    2.1 非接触式智能卡的分类第19-20页
    2.2 非接触式智能卡的基本结构和工作原理第20-22页
        2.1.1 非接触式智能卡的基本结构第20-21页
        2.1.2 非接触式智能卡的工作原理第21-22页
    2.3 ISO/IEC14443-A协议介绍第22-28页
        2.2.1 ISO/IEC14443-1/2介绍第22-25页
        2.2.2 ISO/IEC14443-3介绍第25-26页
        2.2.3 ISO/IEC14443-4介绍第26-28页
    2.4 非接触式CPU卡片内操作系统介绍第28-35页
        2.4.1 非接触式CPU芯片相关介绍第28-30页
        2.4.2 片内操作系统COS介绍第30-31页
        2.4.3 COS通用指令集第31-35页
    2.5 本章小结第35-36页
第三章 电磁信息采集平台第36-52页
    3.1 电磁信息泄露模型第36-40页
        3.1.1 CMOS电路的能量消耗第36-37页
        3.1.2 电磁辐射产生机理第37-38页
        3.1.3 电磁信息泄露模型第38-40页
    3.2 电磁信息采集平台结构介绍第40-43页
        3.2.1 电磁信息采集平台整体结构第40-41页
        3.2.2 电磁信息采集平台的使用方法第41-43页
    3.3 电磁信息采集平台的各模块介绍第43-50页
        3.3.1 电磁信息采集工具模块第43-45页
        3.3.2 射频识别模块第45-48页
        3.3.3 预处理模块第48-50页
    3.4 本章小结第50-52页
第四章 相关电磁攻击算法实现第52-66页
    4.1 相关性电磁攻击方法第52-56页
        4.1.1 攻击方法选取第52-55页
        4.1.2 差分电磁攻击第55页
        4.1.3 相关电磁攻击第55-56页
    4.2 加密算法及攻击算法实现第56-61页
        4.2.1 DES加密算法原理第56-59页
        4.2.2 DES攻击位置选取第59-60页
        4.2.3 攻击算法实现第60-61页
    4.3 预处理方法实现第61-65页
        4.3.1 模拟预处理硬件设计第61-63页
        4.3.2 数字预处理仿真设计第63-64页
        4.3.3 电磁能量迹对齐处理第64-65页
    4.4 本章小结第65-66页
第五章 电磁能量迹实测分析第66-81页
    5.1 电磁能量迹采集第66-70页
        5.1.1 电磁信息采集平台运行第66-67页
        5.1.2 实测电磁能量迹波形第67-70页
        5.1.3 实测电磁能量迹的频率分量分析第70页
    5.2 预处理波形比较第70-74页
        5.2.1 实测电磁能量迹对齐第70-71页
        5.2.2 模拟预处理波形第71-73页
        5.2.3 数字预处理波形第73-74页
    5.3 相关电磁攻击结果第74-78页
        5.3.1 模拟预处理波形攻击结果第74-76页
        5.3.2 数字预处理波形攻击结果第76-78页
    5.4 电磁信息采集系统结果总结第78-80页
        5.4.1 攻击结果验证及预处理模块性能评估第78-79页
        5.4.2 针对电磁攻击的防御措施第79-80页
    5.5 本章小结第80-81页
第六章 总结与展望第81-83页
    6.1 全文总结第81页
    6.2 后续工作展望第81-83页
致谢第83-84页
参考文献第84-86页
攻读硕士学位期间取得的成果第86页

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