| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 研究目的及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 ZnO压敏电阻宏观电容量研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 ZnO压敏电阻残压比研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.3 ZnO压敏电阻交流老化特性的研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.4 ZnO压敏电阻老化性能研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3 论文的研究内容及安排 | 第14-16页 |
| 参考文献 | 第16-19页 |
| 第二章 8/20μs电流冲击对ZnO压敏电阻宏观电容量的影响 | 第19-47页 |
| 2.1 氧化锌压敏电阻宏观电容量 | 第19-21页 |
| 2.1.1 基于砖块模型的宏观电容量计算方法 | 第19-20页 |
| 2.1.2 宏观电容量与阻性电流的关系 | 第20-21页 |
| 2.2 ZnO压敏电阻导电机理 | 第21-28页 |
| 2.2.1 微观结构 | 第21-22页 |
| 2.2.2 晶界势垒模型 | 第22-27页 |
| 2.2.2.1 低电场区域的导电机理 | 第22-24页 |
| 2.2.2.2 中电场区域的导电机理 | 第24-26页 |
| 2.2.2.3 高电场区域的导电机理 | 第26-27页 |
| 2.2.3 氧化锌压敏电阻片的老化劣化机理 | 第27-28页 |
| 2.2.3.1 直流老化机理 | 第27-28页 |
| 2.2.3.2 交流老化机理 | 第28页 |
| 2.2.3.3 冲击老化机理 | 第28页 |
| 2.3 8/20μs电流冲击后ZnO压敏电阻宏观电容量随时间变化特性 | 第28-34页 |
| 2.3.1 研究目的 | 第28-29页 |
| 2.3.2 试验样品及设备 | 第29页 |
| 2.3.3 冲击老化试验过程 | 第29页 |
| 2.3.4 实验结果及其分析 | 第29-34页 |
| 2.3.4.1 冲击老化实验结果 | 第30-31页 |
| 2.3.4.2 分析与讨论 | 第31-34页 |
| 2.3.5 结论 | 第34页 |
| 2.4 8/20μs电流冲击后ZnO压敏电阻宏观电容量老化特性的变化 | 第34-42页 |
| 2.4.1 宏观电容量与压敏电压U_(1mA)的关系 | 第35页 |
| 2.4.2 试验样品与设备 | 第35页 |
| 2.4.3 8/20μs电流冲击试验过程与注意事项 | 第35-36页 |
| 2.4.4 标称冲击电流(I_n)试验 | 第36-40页 |
| 2.4.5 最大冲击电流(I_(max))试验 | 第40-42页 |
| 2.4.6 结论 | 第42页 |
| 2.5 本章小结 | 第42-44页 |
| 参考文献 | 第44-47页 |
| 第三章 8/20μs电流冲击后ZnO压敏电阻残压比的变化 | 第47-58页 |
| 3.1 残压比的研究意义 | 第47-48页 |
| 3.1.1 残压比的影响因素 | 第47-48页 |
| 3.2 实验方案及结果分析 | 第48-54页 |
| 3.2.1 实验试样与测试设备 | 第48-49页 |
| 3.2.2 标称电流(I_n)冲击老化实验 | 第49-52页 |
| 3.2.3 最大电流(I_(max))冲击老化实验 | 第52-54页 |
| 3.3 结论 | 第54-55页 |
| 3.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 第四章 8/20μs电流冲击对ZnO压敏电阻交流老化特性的影响 | 第58-70页 |
| 4.1 ZnO压敏电阻交流老化特性的研究意义 | 第58-60页 |
| 4.1.1 ZnO压敏电阻的特性参数 | 第59-60页 |
| 4.2 实验方案 | 第60页 |
| 4.2.1 实验试样与测试设备 | 第60页 |
| 4.2.2 冲击老化实验 | 第60页 |
| 4.2.3 交流老化实验 | 第60页 |
| 4.3 实验结果与讨论 | 第60-67页 |
| 4.3.1 冲击后样品静态参数的变化 | 第60-62页 |
| 4.3.2 交流老化后样品静态参数的变化 | 第62-67页 |
| 4.4 结论 | 第67页 |
| 4.5 本章小结 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 第五章 总结 | 第70-73页 |
| 作者简介 | 第73-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
