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TD-LTE-A终端综合测试仪RRC流程的实现

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
1 绪论第9-13页
    1.1 研究背景与意义第9-10页
    1.2 国内外研究概况第10-12页
    1.3 论文的主要研究内容第12-13页
2 LTE-A技术研究第13-18页
    2.1 引言第13页
    2.2 LTE-A总体架构第13-15页
    2.3 E-UTRAN控制平面协议栈第15-16页
    2.4 控制平面协议栈RRC流程实现方法第16-17页
    2.5 本章小结第17-18页
3 RRC标准测试流程第18-28页
    3.1 引言第18页
    3.2 36.508 UE测试状态图第18-19页
    3.3 36.508 UE测试状态STATE 2第19-23页
    3.4 36.508 UE测试状态STATE 3第23-25页
    3.5 36.508 UE测试状态STATE 2A第25-26页
    3.6 36.508 UE测试状态STATE 4第26-27页
    3.7 本章小结第27-28页
4 RRC测试流程的SDL实现第28-47页
    4.1 引言第28页
    4.2 SDL语言和ASN.1 规范简介第28-30页
    4.3 SDL工程系统架构第30-33页
    4.4 UE测试状态STATE 2 SDL实现第33-39页
    4.5 UE测试状态STATE 3 SDL实现第39-41页
    4.6 UE测试状态STATE 2A SDL实现第41-42页
    4.7 UE测试状态STATE 4 SDL实现第42-43页
    4.8 UE测试流程的仿真第43-45页
    4.9 本章小结第45-47页
5 移植与整机联调第47-62页
    5.1 引言第47页
    5.2 SDL工程集成第47-52页
    5.3 ASN.1 编解码实现第52-54页
    5.4 RRC与下层的接口第54-55页
    5.5 移植平台第55-57页
    5.6 流程异常第57-58页
    5.7 实现结果及分析第58-61页
    5.8 本章小结第61-62页
6 总结与展望第62-64页
    6.1 全文总结第62页
    6.2 课题展望第62-64页
致谢第64-65页
参考文献第65-67页

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