一种基于CIS的暗像素校正系统设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 课题背景 | 第15-17页 |
| 1.2 CMOS图像传感器中的暗像素校正 | 第17-18页 |
| 1.3 研究现状和发展趋势 | 第18-19页 |
| 1.4 论文章节安排 | 第19-20页 |
| 1.5 本章小结 | 第20-21页 |
| 第二章 CMOS图像传感器中的暗电流及其消除算法 | 第21-33页 |
| 2.1 CMOS图像传感器中的常见噪声 | 第21-25页 |
| 2.1.1 热噪声 | 第21-22页 |
| 2.1.2 散粒噪声 | 第22-23页 |
| 2.1.3 闪烁噪声 | 第23-24页 |
| 2.1.4 失配噪声 | 第24页 |
| 2.1.5 暗电流 | 第24-25页 |
| 2.2 暗电流的特性 | 第25-32页 |
| 2.2.1 暗电流的成因 | 第25-28页 |
| 2.2.2 暗电流的不一致性 | 第28页 |
| 2.2.3 暗电流的校正流程 | 第28-29页 |
| 2.2.4 遮光帧校正算法 | 第29-30页 |
| 2.2.5 遮光像素校正算法 | 第30-31页 |
| 2.2.6 遮光像素与成像像素差异校正算法 | 第31-32页 |
| 2.3 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 暗像素校正系统设计 | 第33-67页 |
| 3.1 暗像素校正系统简介 | 第33-38页 |
| 3.1.1 暗像素校正工作原理 | 第33-36页 |
| 3.1.2 暗像素校正系统框架及顶层模块设计 | 第36-38页 |
| 3.2 SPI协议简介 | 第38-40页 |
| 3.3 中值滤波模块设计 | 第40-44页 |
| 3.3.1 中值滤波原理 | 第40页 |
| 3.3.2 中值滤波算法设计 | 第40-43页 |
| 3.3.3 中值滤波模块仿真 | 第43-44页 |
| 3.4 排序并计算模块 | 第44-48页 |
| 3.4.1 排序计算模块工作原理 | 第44页 |
| 3.4.2 排序计算模块算法设计 | 第44-46页 |
| 3.4.3 排序并计算模块仿真 | 第46-48页 |
| 3.5 全局均值产生模块设计 | 第48页 |
| 3.6 反馈调节值产生模块设计 | 第48-57页 |
| 3.6.1 反馈调节值产生原理 | 第48-50页 |
| 3.6.2 反馈调节值产生模块设计 | 第50-56页 |
| 3.6.3 反馈调节值产生模块仿真 | 第56-57页 |
| 3.7 系统综合 | 第57-64页 |
| 3.7.1 时序约束基础 | 第57-60页 |
| 3.7.2 DC综合 | 第60-61页 |
| 3.7.3 门控时钟 | 第61-64页 |
| 3.8 本章小结 | 第64-67页 |
| 第四章 暗像素校正系统验证 | 第67-79页 |
| 4.1 软件验证 | 第67-72页 |
| 4.1.1 代码检查 | 第67-69页 |
| 4.1.2 测试用例设计 | 第69-72页 |
| 4.2 形式验证 | 第72-74页 |
| 4.3 硬件测试 | 第74-77页 |
| 4.3.1 硬件测试平台介绍 | 第74-75页 |
| 4.3.2 硬件测试设计 | 第75-77页 |
| 4.4 本章小结 | 第77-79页 |
| 第五章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 5.1 本文总结 | 第79页 |
| 5.2 工作展望 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 致谢 | 第85-87页 |
| 作者简介 | 第87-88页 |
