| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 研究的背景和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第11-17页 |
| 1.2.1 主流的静态分析技术 | 第12-16页 |
| 1.2.2 存在的问题 | 第16-17页 |
| 1.3 研究内容 | 第17页 |
| 1.4 本文的组织结构 | 第17-19页 |
| 第2章 研究基础 | 第19-26页 |
| 2.1 控制流程图 | 第19-22页 |
| 2.1.1 基本术语 | 第19-20页 |
| 2.1.2 控制流分析 | 第20-22页 |
| 2.2 约束求解 | 第22-24页 |
| 2.2.1 基本术语 | 第22-23页 |
| 2.2.2 约束求解器在静态检测中的应用 | 第23-24页 |
| 2.3 符号执行 | 第24-26页 |
| 2.3.1 基本术语 | 第24页 |
| 2.3.2 符号执行 | 第24-26页 |
| 第3章 循环迭代分析方法 | 第26-40页 |
| 3.1 概述 | 第26-27页 |
| 3.2 循环迭代次数求解 | 第27-32页 |
| 3.2.1 基本术语 | 第27-29页 |
| 3.2.2 一阶线性差分方程的解 | 第29页 |
| 3.2.3 迭代次数计算 | 第29-32页 |
| 3.3 循环展开 | 第32-38页 |
| 3.3.1 基本术语 | 第32-33页 |
| 3.3.2 循环摘要 | 第33-36页 |
| 3.3.3 循环展开 | 第36-38页 |
| 3.4 实验结果分析 | 第38-40页 |
| 第4章 上下文敏感的内存模拟方法 | 第40-54页 |
| 4.1 概述 | 第40-41页 |
| 4.2 基本术语 | 第41-43页 |
| 4.2.1 内存泄漏缺陷分类 | 第41页 |
| 4.2.2 内存分类 | 第41-42页 |
| 4.2.3 内存状态 | 第42页 |
| 4.2.4 内存行为 | 第42-43页 |
| 4.2.5 指针状态 | 第43页 |
| 4.3 内存模拟 | 第43-51页 |
| 4.3.1 状态转移图 | 第43-46页 |
| 4.3.2 状态转移图的生成算法 | 第46-48页 |
| 4.3.3 内存模拟算法 | 第48-51页 |
| 4.4 内存泄漏和数组越界缺陷检测 | 第51-52页 |
| 4.5 内存泄漏和数组越界缺陷检测算法实验结果分析 | 第52-54页 |
| 第5章 原型系统的设计与实现 | 第54-63页 |
| 5.1 概述 | 第54页 |
| 5.2 系统架构 | 第54-55页 |
| 5.3 系统模块功能实现 | 第55-62页 |
| 5.3.1 交互模块 | 第55-57页 |
| 5.3.2 数据处理模块 | 第57页 |
| 5.3.3 静态检测模块 | 第57-62页 |
| 5.4 实验环境 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 致谢 | 第68页 |