平面包络环面蜗杆制造误差的分布式检测分析系统

中文摘要	第4-5页
英文摘要	第5页
1 绪论	第9-14页
1．1 蜗杆传动的发展	第9-10页
1．2 课题的提出及意义	第10-12页
1．3 国内外测试仪器的现状	第12页
1．4 本课题的研究内容	第12-14页
2 平面包络环面蜗杆制造误差检测分析系统的原理	第14-26页
2．1 平面包络环面蜗杆传动的形成原理	第14-15页
2．2 标准螺旋线方程	第15-18页
2．2．1 坐标架的建立	第15-16页
2．2．2 螺旋线方程的求得	第16-18页
2．3 环面蜗杆制造误差的检测	第18-25页
2．3．1 问题的提出	第18页
2．3．2 环面蜗杆制造误差的检测原理	第18-21页
2．3．3 信号细分	第21-25页
2．4 本章小结	第25-26页
3 系统的硬件电路设计	第26-39页
3．1 器件选择	第26-28页
3．1．1 单片机的选择	第26-27页
3．1．2 计数器的选择	第27-28页
3．1．3 锁存器的选择	第28页
3．2 总体方案的设计	第28-29页
3．3 外围电路的设计	第29-31页
3．3．1 时钟电路	第29-30页
3．3．2 复位电路	第30-31页
3．4 数据采集模块的设计	第31-32页
3．4．1 14 位计数器子模块	第31-32页
3．4．2 锁存控制子模块	第32页
3．5 并行通讯	第32-38页
3．5．1 工作模式的选择	第33-34页
3．5．2 端口寻址	第34-36页
3．5．3 打印机端口脚位的定义使用	第36-38页
3．5．4 打印口的连接	第38页
3．6 本章小结	第38-39页
4 下位机系统软件设计	第39-49页
4．1 下位机软件设计的编程思想	第39页
4．2 单片机I/O脚的功能分配	第39-40页
4．2．1 主单片机	第39-40页
4．2．2 副单片机	第40页
4．3 计数锁存子模块	第40-41页
4．4 主、副单片机的数据通讯子模块	第41-43页
4．5 主芯片和上位PC机的数据通讯子模块	第43-46页
4．6 主、副芯片的总体程序设计	第46-48页
4．7 本章小结	第48-49页
5 下位机系统可靠性的设计	第49-55页
5．1 单片机系统的干扰	第49-51页
5．1．1 形成干扰的要素	第49页
5．1．2 干扰的负面作用	第49-50页
5．1．3 主要干扰源及其干扰方式	第50-51页
5．2 可靠性的设计	第51-54页
5．2．1 硬件方面	第51-52页
5．2．2 软件方面	第52-54页
5．3 本章小结	第54-55页
6 上位PC机软件设计	第55-65页
6．1 VisualBasic6．0中文版	第55页
6．2 编程方法的实现	第55-64页
6．2．1 动态连接库	第55-57页
6．2．2 并行三口的状态检测	第57-58页
6．2．3 上位PC机采集数据的反向传输	第58-62页
6．2．4 上位PC机分频数的正向传输	第62-64页
6．3 本章小结	第64-65页
7 实验结果	第65-72页
7．1 PCB板的设计制作	第65-67页
7．1．1 印刷电路板的布局设计	第65页
7．1．2 印刷电路板的布线设计	第65-67页
7．2 实验器件的选择	第67-68页
7．2．1 轴角编码器的选择	第67-68页
7．2．2 单片机系统电源的选择	第68页
7．3 波形转换	第68-70页
7．4 实验结果	第70-71页
7．5 本章小结	第71-72页
8 总结	第72-73页
致谢	第73-74页
参考文献	第74-77页
附录：	第77-78页
A系统整体电路图	第77-78页
B作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录	第78页