| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第14-26页 |
| 1.1 研究背景 | 第14-17页 |
| 1.2 研究现状 | 第17-23页 |
| 1.2.1 GTEM cell的应用 | 第17-19页 |
| 1.2.2 特性阻抗研究 | 第19-20页 |
| 1.2.3 场均匀性研究 | 第20-22页 |
| 1.2.4 高阶模研究 | 第22-23页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第23-26页 |
| 第二章 基本理论和研究方法 | 第26-44页 |
| 2.1 工程材料介电参数理论 | 第26-32页 |
| 2.1.1 电介质极化 | 第26-28页 |
| 2.1.2 电介质损耗 | 第28-30页 |
| 2.1.3 束缚电子的介电函数模型 | 第30-31页 |
| 2.1.4 介电函数的德拜方程 | 第31-32页 |
| 2.2 微波传输线理论 | 第32-35页 |
| 2.2.1 均匀传输线方程 | 第32-35页 |
| 2.2.2 传输线工作参数 | 第35页 |
| 2.3 有限积分法 | 第35-40页 |
| 2.3.1 麦克斯韦方程 | 第36页 |
| 2.3.2 Yee网格 | 第36-37页 |
| 2.3.3 麦克斯韦积分方程离散化 | 第37-38页 |
| 2.3.4 稳定性判据和数值色散 | 第38-39页 |
| 2.3.5 边界条件和激励源 | 第39-40页 |
| 2.4 GTEM cell性能测试方法 | 第40-43页 |
| 2.4.1 GTEM cell时域特性阻抗测试方法 | 第40-41页 |
| 2.4.2 GTEM cell电压驻波比测试方法 | 第41页 |
| 2.4.3 GTEM cell场均匀性测试和评价方法 | 第41-43页 |
| 2.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第三章 角锥泡沫吸波材料复介电常数的传输/反射法 | 第44-58页 |
| 3.1 同轴传输/反射法基本原理 | 第44-46页 |
| 3.2 测试夹具设计及测试装置校准 | 第46-48页 |
| 3.3 传播常数多值问题分析 | 第48-50页 |
| 3.4 厚度谐振问题分析 | 第50-53页 |
| 3.5 泡沫吸波材料复介电常数测试 | 第53-55页 |
| 3.6 测试夹具的改进 | 第55-56页 |
| 3.7 本章小结 | 第56-58页 |
| 第四章 电磁兼容吸波材料的建模与仿真 | 第58-70页 |
| 4.1 电磁兼容吸波材料介绍 | 第58-59页 |
| 4.2 建模仿真基本原理和流程 | 第59-61页 |
| 4.3 同轴测试装置模型 | 第61-62页 |
| 4.4 仿真参数验证 | 第62-64页 |
| 4.4.1 仿真终止频率 | 第62-63页 |
| 4.4.2 测试装置高度 | 第63-64页 |
| 4.4.3 网格数设置 | 第64页 |
| 4.5 吸波材料建模仿真 | 第64-67页 |
| 4.5.1 铁氧体瓦建模仿真 | 第64-66页 |
| 4.5.2 角锥泡沫吸波材料建模仿真 | 第66-67页 |
| 4.6 本章小结 | 第67-70页 |
| 第五章 GTEM cell复合终端对其临界频率点的影响 | 第70-92页 |
| 5.1 复合终端设计原理 | 第71-72页 |
| 5.2 高频匹配终端设计 | 第72-81页 |
| 5.2.1 理论分析及仿真模型 | 第72-74页 |
| 5.2.2 几何参数影响 | 第74-75页 |
| 5.2.3 电磁参数影响 | 第75-77页 |
| 5.2.4 介质均匀性影响 | 第77-81页 |
| 5.3 低频匹配终端设计 | 第81-85页 |
| 5.3.1 理论分析及仿真模型 | 第81-83页 |
| 5.3.2 电阻网板模型检验 | 第83-84页 |
| 5.3.3 几何参数影响 | 第84-85页 |
| 5.4 复合终端参数优化 | 第85-89页 |
| 5.5 本章小结 | 第89-92页 |
| 第六章 GTEM cell高阶模成因及场均匀性分析 | 第92-118页 |
| 6.1 复合终端对高阶模的影响 | 第92-96页 |
| 6.1.1 TM模的激励 | 第92-93页 |
| 6.1.2 TM模的衰减 | 第93-94页 |
| 6.1.3 仿真验证 | 第94-96页 |
| 6.2 高频接头对高阶模的影响 | 第96-98页 |
| 6.3 EUT对高阶模的影响 | 第98-101页 |
| 6.3.1 TE模的激励 | 第98页 |
| 6.3.2 仿真验证 | 第98-101页 |
| 6.4 仿真分析GTEM cell场分布 | 第101-109页 |
| 6.4.1 后测试区场分布 | 第101-104页 |
| 6.4.2 前测试区场分布 | 第104-106页 |
| 6.4.3 纵向场均匀性分析 | 第106-107页 |
| 6.4.4 EUT对场分布的影响 | 第107-109页 |
| 6.5 GTEM cell性能测试 | 第109-110页 |
| 6.5.1 时域特性阻抗测试 | 第109-110页 |
| 6.5.2 电压驻波比测试 | 第110页 |
| 6.6 GTEM cell场均匀性测试及评价 | 第110-116页 |
| 6.6.1 测试方案 | 第110-111页 |
| 6.6.2 有效测试区域划分 | 第111-112页 |
| 6.6.3 IEC 61000-4-20场均匀性校准方法 | 第112-114页 |
| 6.6.4 测试结果及评价 | 第114-116页 |
| 6.7 本章小结 | 第116-118页 |
| 第七章 总结与展望 | 第118-122页 |
| 7.1 本文主要研究结论 | 第118-120页 |
| 7.2 本文主要创新点 | 第120-121页 |
| 7.3 工作展望 | 第121-122页 |
| 致谢 | 第122-124页 |
| 参考文献 | 第124-138页 |
| 博士期间科研成果 | 第138页 |
