通用数控平台的工业CT控制技术研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-9页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题的背景和研究意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·工业CT 控制技术现状 | 第10-11页 |
| ·数控系统发展概况 | 第11-12页 |
| ·课题研究难点 | 第12页 |
| ·课题主要研究工作 | 第12-15页 |
| 2 工业CT控制平台设计 | 第15-27页 |
| ·工业CT 系统组成与结构 | 第15页 |
| ·控制系统设计分析 | 第15-17页 |
| ·功能要求 | 第16页 |
| ·性能要求 | 第16-17页 |
| ·控制方案及可行性 | 第17-20页 |
| ·采用通用数控系统的控制方案 | 第17-18页 |
| ·选用SIEMENS 840D 的可行性分析 | 第18-20页 |
| ·控制平台总体结构设计 | 第20-24页 |
| ·组成结构 | 第20页 |
| ·硬件配置 | 第20-22页 |
| ·控制平台实现 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-27页 |
| 3 系统控制方法研究 | 第27-49页 |
| ·不同扫描方式的控制分析 | 第27-32页 |
| ·CT 扫描方式 | 第27-28页 |
| ·二代扫描控制分析 | 第28-30页 |
| ·三代扫描控制分析 | 第30-31页 |
| ·控制需求的共性和特性 | 第31-32页 |
| ·840D 平台的CT 控制方法研究 | 第32-40页 |
| ·多轴联动控制 | 第32-36页 |
| ·同步控制 | 第36-37页 |
| ·安全连锁保护控制 | 第37-38页 |
| ·与上位机的通讯控制 | 第38-40页 |
| ·840D 平台的CT 控制技术实现 | 第40-47页 |
| ·二代扫描控制 | 第40-43页 |
| ·三代扫描控制 | 第43-45页 |
| ·与上位机通讯控制 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 4 系统软件设计 | 第49-67页 |
| ·系统软件总体分析 | 第49-51页 |
| ·软件设计分析 | 第49-50页 |
| ·系统软件总体结构 | 第50-51页 |
| ·系统编程技术 | 第51-53页 |
| ·宏指令编程技术 | 第52页 |
| ·内置PLC 编程技术 | 第52-53页 |
| ·CT 控制程序设计 | 第53-65页 |
| ·扫描运动控制模块 | 第53-58页 |
| ·采集同步控制模块 | 第58-59页 |
| ·内外信号控制模块 | 第59-63页 |
| ·安防保护控制模块 | 第63-65页 |
| ·本章小结 | 第65-67页 |
| 5 系统测试与性能优化 | 第67-77页 |
| ·系统测试 | 第67-70页 |
| ·二代扫描测试 | 第67-68页 |
| ·三代扫描测试 | 第68页 |
| ·同步控制功能测试 | 第68-70页 |
| ·系统性能优化 | 第70-76页 |
| ·SIMODRIVE 611D 驱动优化 | 第70-74页 |
| ·优化结果分析 | 第74-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 6 结论与展望 | 第77-79页 |
| ·结论 | 第77页 |
| ·展望 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 附录 | 第85页 |
| A. 作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第85页 |
