| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 缩略词对照表 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-20页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第16-18页 |
| 1.3 论文的研究内容和章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 Flash电离辐照效应分析及其测试原理 | 第20-30页 |
| 2.1 Flash存储器结构及其工作原理 | 第20-22页 |
| 2.1.1 Flash存储器的单元结构 | 第20-21页 |
| 2.1.2 Flash存储器的阵列结构 | 第21页 |
| 2.1.3 Flash存储器的工作原理 | 第21-22页 |
| 2.2 Flash的电离辐照效应 | 第22-25页 |
| 2.2.1 空间辐射效应概况 | 第22页 |
| 2.2.2 总剂量效应 | 第22-23页 |
| 2.2.3 单粒子效应[] | 第23-25页 |
| 2.3 Flash存储器测试原理 | 第25-29页 |
| 2.3.1 Flash存储器功能模型 | 第25-26页 |
| 2.3.2 Flash存储器故障模型 | 第26-28页 |
| 2.3.3 Flash存储器常用测试算法 | 第28-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 Flash测试系统方案的硬件电路设计 | 第30-42页 |
| 3.1 系统的整体架构 | 第30-31页 |
| 3.2 FPGA控制模块简介 | 第31-39页 |
| 3.2.1 FPGA简介开发流程分析 | 第31-32页 |
| 3.2.2 FPGA芯片 | 第32-33页 |
| 3.2.3 千兆以太网接口 | 第33-39页 |
| 3.3 待测试芯片Am29lv160db | 第39-40页 |
| 3.3.1 芯片Am29lv160db介绍 | 第39-40页 |
| 3.3.2 芯片工作模式 | 第40页 |
| 3.4 本章总结 | 第40-42页 |
| 第四章 系统软件设计与仿真验证 | 第42-62页 |
| 4.1 系统软件设计概述 | 第42-44页 |
| 4.2 ISE和Modelsim的联合仿真环境搭建 | 第44-45页 |
| 4.3 以太网通信模块的实现逻辑 | 第45-56页 |
| 4.3.1 链路层逻辑设计 | 第46-50页 |
| 4.3.3 网络层逻辑设计 | 第50-54页 |
| 4.3.4 传输层逻辑设计 | 第54页 |
| 4.3.5 应用层逻辑设计 | 第54-56页 |
| 4.4 测试控制的逻辑设计 | 第56-60页 |
| 4.4.1 测试控制的逻辑设计 | 第56-58页 |
| 4.4.2 Flash工作状态机设计 | 第58-60页 |
| 4.5 设计综合结果 | 第60页 |
| 4.6 本章总结 | 第60-62页 |
| 第五章 测试系统的工作验证 | 第62-72页 |
| 5.1 验证前期准备 | 第62-63页 |
| 5.1.1 系统整体搭建 | 第62页 |
| 5.1.2 系统验证方法概述 | 第62-63页 |
| 5.1.3 系统验证辅助工具 | 第63页 |
| 5.2 系统测试验证演示 | 第63-68页 |
| 5.2.1 上位机测试验证演示 | 第63-65页 |
| 5.2.2 下位机测试验证演示 | 第65-68页 |
| 5.3 测试系统工作流程 | 第68-70页 |
| 5.4 本章总结 | 第70-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 6.1 本文总结 | 第72页 |
| 6.2 本文展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 作者简介 | 第80-81页 |
| 基本情况 | 第80页 |
| 教育背景 | 第80页 |
| 申请(授权)专利 | 第80-81页 |