| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 高能闪光照相技术发展概述 | 第8-9页 |
| 1.2 闪光照相对高能X射线源焦斑尺寸诊断的需求 | 第9页 |
| 1.3 高能X射线源焦斑尺寸诊断的关键技术及难点 | 第9-10页 |
| 1.4 论文选题的意义 | 第10-11页 |
| 1.5 论文研究工作主要内容和创新点 | 第11-13页 |
| 1.5.1 论文研究工作主要内容 | 第11-12页 |
| 1.5.2 论文创新点 | 第12-13页 |
| 第二章 诊断原理和方法研究 | 第13-58页 |
| 2.1 国内外研究现状 | 第13-17页 |
| 2.1.1 AWE定义的高能X射线源焦斑尺寸诊断方法 | 第13-14页 |
| 2.1.2 LLNL利用针孔相机及圆柱刃边装置获得焦斑尺寸 | 第14-15页 |
| 2.1.3 LANL采用针孔法获得高能x射线源焦斑尺寸 | 第15-16页 |
| 2.1.4 SNL的采用AWE定义获得焦斑尺寸 | 第16页 |
| 2.1.5 RAFAEL利用方孔法获得焦斑尺寸及强度分布 | 第16-17页 |
| 2.1.6 国内高能X射线源焦斑尺寸诊断研究进展 | 第17页 |
| 2.2 诊断原理和方法研究 | 第17-57页 |
| 2.2.1 几何法 | 第17-47页 |
| 2.2.2 调制传递函数法 | 第47-57页 |
| 2.3 本章小结 | 第57-58页 |
| 第三章 高能X射线图像探测技术研究 | 第58-82页 |
| 3.1 X射线探测技术概述 | 第58-62页 |
| 3.1.1 盖革计数器或正比计数器 | 第59页 |
| 3.1.2 半导体探测器 | 第59-60页 |
| 3.1.3 X光底片 | 第60页 |
| 3.1.4 X射线成像板 | 第60-61页 |
| 3.1.5 电子变焦管 | 第61页 |
| 3.1.6 闪烁体探测器 | 第61-62页 |
| 3.1.7 X射线CCD相机 | 第62页 |
| 3.2 闪光照相中常用的高能X射线图像探测器 | 第62-66页 |
| 3.2.1 X光底片 | 第62-64页 |
| 3.2.2 闪烁体探测器 | 第64-66页 |
| 3.3 闪烁体探测器设计 | 第66-81页 |
| 3.3.1 设计要素分析 | 第66-68页 |
| 3.3.2 X光转换单元的设计 | 第68-72页 |
| 3.3.3 可见光图像探测单元设计 | 第72页 |
| 3.3.4 数据传输及处理单元设计 | 第72页 |
| 3.3.5 国内外高能X射线闪烁体探测器设计 | 第72-76页 |
| 3.3.6 高能X射线闪烁体探测器设计及实验研究 | 第76-81页 |
| 3.4 本章小结 | 第81-82页 |
| 第四章 焦斑尺寸诊断技术实验研究 | 第82-96页 |
| 4.1 圆柱刃边法在1MV杆箍缩二极管X射线源焦斑尺寸诊断中的应用 | 第82-85页 |
| 4.1.1 实验装置 | 第82页 |
| 4.1.2 诊断方法及实验布局 | 第82-83页 |
| 4.1.3 实验结果及数据处理 | 第83-85页 |
| 4.1.4 结果分析 | 第85页 |
| 4.2 三种焦斑尺寸诊断方法在神龙一号加速器上的对比实验研究 | 第85-92页 |
| 4.2.1 实验装置 | 第85页 |
| 4.2.2 诊断方法及实验布局 | 第85-87页 |
| 4.2.3 实验结果及数据处理 | 第87-92页 |
| 4.3 圆柱刃边法诊断高能X射线源焦斑尺寸在神龙二号调试中的应用 | 第92-95页 |
| 4.4 本章小结 | 第95-96页 |
| 第五章 全文总结与展望 | 第96-97页 |
| 5.1 全文总结 | 第96页 |
| 5.2 工作展望 | 第96-97页 |
| 参考文献 | 第97-103页 |
| 致谢 | 第103-104页 |
| 附录1 攻读博士学位期间发表的论文 | 第104-105页 |
| 附录2 攻读博士学位期间获得的奖励 | 第105页 |
