二氧化硫光学测量技术的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-20页 |
| ·课题研究背景、目的和意义 | 第11-13页 |
| ·国内外现状 | 第13-18页 |
| ·二氧化硫的主要检测方法 | 第13-16页 |
| ·国外研究现状 | 第16-18页 |
| ·国内研究现状 | 第18页 |
| ·课题来源 | 第18页 |
| ·论文主要研究内容 | 第18-20页 |
| 第2章 荧光测量差分法原理 | 第20-30页 |
| ·引言 | 第20页 |
| ·荧光测量原理 | 第20-24页 |
| ·荧光概述 | 第20-21页 |
| ·荧光产生原理 | 第21-22页 |
| ·荧光物质的激发光谱和发射光谱 | 第22-23页 |
| ·荧光寿命与荧光量子效率 | 第23-24页 |
| ·紫外荧光法测量二氧化硫原理 | 第24-27页 |
| ·紫外荧光差分法测二氧化硫浓度的理论基础 | 第24-26页 |
| ·二氧化硫荧光强度与浓度关系 | 第26-27页 |
| ·荧光差分法双光路测量原理 | 第27-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 系统光路结构设计 | 第30-45页 |
| ·引言 | 第30页 |
| ·光路系统 | 第30-31页 |
| ·系统光源 | 第31-32页 |
| ·系统光源的选择 | 第31-32页 |
| ·系统光源的驱动电路 | 第32页 |
| ·介质透镜 | 第32-33页 |
| ·干涉滤光片 | 第33-36页 |
| ·滤光片基本特性 | 第33-34页 |
| ·干涉滤光片的原理及特性 | 第34-35页 |
| ·滤光片的选择 | 第35-36页 |
| ·测量气室 | 第36-37页 |
| ·光纤及光纤连接耦合 | 第37-39页 |
| ·光纤概述 | 第37-38页 |
| ·光纤与光纤的连接 | 第38页 |
| ·光纤与探测器的耦合 | 第38-39页 |
| ·光电倍增管 | 第39-43页 |
| ·光电倍增管的工作原理 | 第39-40页 |
| ·光电倍增管的工作电路 | 第40-43页 |
| ·光电倍增管的基本参数 | 第43页 |
| ·本章小结 | 第43-45页 |
| 第4章 信号检测系统设计 | 第45-67页 |
| ·引言 | 第45页 |
| ·前置放大电路 | 第45-48页 |
| ·滤波电路 | 第48-53页 |
| ·滤波器概述 | 第48-50页 |
| ·滤波电路的设计 | 第50-53页 |
| ·锁相放大电路 | 第53-54页 |
| ·光电信号变换与检测技术 | 第54-58页 |
| ·微弱信号的相关检测 | 第55-56页 |
| ·微弱信号的锁相放大电路 | 第56-58页 |
| ·系统硬件设计 | 第58-59页 |
| ·中央处理单元 | 第59-64页 |
| ·PIC16F877 单片机概述 | 第59-61页 |
| ·PIC16F877 单片机主程序流程图 | 第61-64页 |
| ·键盘与显示系统 | 第64-65页 |
| ·声光报警系统 | 第65-66页 |
| ·通信模块 | 第66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第5章 系统实验研究 | 第67-72页 |
| ·引言 | 第67页 |
| ·试验样机 | 第67页 |
| ·系统实验研究 | 第67-68页 |
| ·系统的线性度处理 | 第68-69页 |
| ·系统重复性分析 | 第69页 |
| ·系统误差分析 | 第69-70页 |
| ·系统对比试验 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 结论 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-78页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 作者简介 | 第80页 |
