| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-21页 |
| ·引言 | 第7-8页 |
| ·压电陶瓷及其基本理论 | 第8-11页 |
| ·压电效应及其产生机理 | 第8-9页 |
| ·压电陶瓷结构 | 第9-10页 |
| ·压电陶瓷基本参数 | 第10-11页 |
| ·压电厚膜材料简介 | 第11-19页 |
| ·压电厚膜材料研究现状 | 第11页 |
| ·压电厚膜材料制备方法 | 第11-14页 |
| ·丝网印刷法 | 第12页 |
| ·溶胶-凝胶法 | 第12页 |
| ·雾化沉积法 | 第12-13页 |
| ·电泳沉积法 | 第13页 |
| ·流延法 | 第13-14页 |
| ·压电厚膜材料的基板选择 | 第14-15页 |
| ·压电厚膜材料的烧结工艺 | 第15-16页 |
| ·压电厚膜材料的改性研究 | 第16-17页 |
| ·压电厚膜材料的应用 | 第17-19页 |
| ·选题背景及意义 | 第19-21页 |
| ·选题背景 | 第19-20页 |
| ·实验目的 | 第20-21页 |
| 第二章 实验简介及测试 | 第21-31页 |
| ·实验简介 | 第21-27页 |
| ·实验方案 | 第21页 |
| ·实验原料及仪器设备 | 第21-22页 |
| ·实验工艺及流程 | 第22-27页 |
| ·陶瓷粉体的制备 | 第23-25页 |
| ·印刷浆料的制备 | 第25-26页 |
| ·基板的预处理 | 第26页 |
| ·厚膜电极的印刷 | 第26页 |
| ·压电厚膜层的印刷 | 第26-27页 |
| ·压电厚膜的排胶与烧结 | 第27页 |
| ·压电厚膜的极化与测试 | 第27页 |
| ·性能测试及仪器装置 | 第27-31页 |
| ·样品居里温度 Tc 的测定 | 第27-28页 |
| ·样品密度的测定 | 第28页 |
| ·样品物相组成的分析 | 第28-29页 |
| ·样品形貌的分析 | 第29页 |
| ·陶瓷粉料粒度分析 | 第29页 |
| ·样品电学性能的测试 | 第29-31页 |
| ·介电常数和介电损耗 | 第29页 |
| ·压电系数及压电电压系数 | 第29-31页 |
| 第三章 PZN-PLZT 压电厚膜材料制备工艺的研究 | 第31-51页 |
| ·PZN-PLZT 压电厚膜印刷层数的确定 | 第31-35页 |
| ·XRD 相结构的分析 | 第32页 |
| ·SEM 形貌分析 | 第32-33页 |
| ·压电性能分析 | 第33-35页 |
| ·Al_2O_3基板 PZN-PLZT 压电厚膜显微结构和电学性能的分析 | 第35-40页 |
| ·玻璃料含量对 PZN-PLZT 压电厚膜性能的影响 | 第35-38页 |
| ·XRD 相结构分析 | 第35-36页 |
| ·SEM 形貌分析 | 第36-37页 |
| ·电学性能分析 | 第37-38页 |
| ·烧结保温时间对 PZN-PLZT 压电厚膜性能的影响 | 第38-40页 |
| ·不锈钢基板 PZN-PLZT 压电厚膜显微结构和电学性能的分析 | 第40-46页 |
| ·上电极的开裂以及陶瓷层脱落问题的研究 | 第41-42页 |
| ·基板厚度对 PZN-PLZT 厚膜性能的影响 | 第42-45页 |
| ·烧结气氛对 PZN-PLZT 厚膜性能的影响 | 第45-46页 |
| ·极化工艺对 PZN-PLZT 压电厚膜电性能的影响 | 第46-49页 |
| ·极化时间对 PZN-PLZT 厚膜性能的影响 | 第46-48页 |
| ·极化温度对 PZN-PLZT 厚膜性能的影响 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 PNN-PZT 压电厚膜材料制备工艺的研究 | 第51-62页 |
| ·烧结温度对厚膜性能的影响 | 第51-54页 |
| ·陶瓷粉料合成温度对厚膜性能的影响 | 第54-57页 |
| ·XRD 相结构分析 | 第54-55页 |
| ·SEM 形貌分析 | 第55页 |
| ·电学性能分析 | 第55-57页 |
| ·球磨时间对厚膜性能的影响 | 第57-59页 |
| ·不锈钢基板 PNN-PZT 厚膜 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 第五章 结论 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
