| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 OCT技术概况 | 第10-15页 |
| 1.1.1 OCT技术的发展概况 | 第10-14页 |
| 1.1.2 OCT技术与其他技术的结合 | 第14-15页 |
| 1.2 论文的主要研究内容和创新点 | 第15-17页 |
| 1.2.1 论文的主要研究内容 | 第15-16页 |
| 1.2.2 论文的创新点 | 第16-17页 |
| 2 OCT系统的基本理论 | 第17-25页 |
| 2.1 谱域OCT系统的原理 | 第17-19页 |
| 2.2 OCT系统的主要性能参数 | 第19-23页 |
| 2.2.1 横向分辨率和焦深 | 第19-20页 |
| 2.2.2 轴向分辨率 | 第20-21页 |
| 2.2.3 系统的信噪比 | 第21-22页 |
| 2.2.4 成像深度 | 第22-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-25页 |
| 3 超高分辨谱域OCT系统的研究及应用 | 第25-45页 |
| 3.1 超高分辨OCT系统的介绍 | 第25-30页 |
| 3.1.1 影响轴向分辨率的因素 | 第25-26页 |
| 3.1.2 实验系统 | 第26-28页 |
| 3.1.3 系统指标 | 第28-30页 |
| 3.2 基于相位比较的色散补偿方法 | 第30-35页 |
| 3.2.1 常见的色散补偿方法 | 第30-32页 |
| 3.2.2 基于相位比较的色散补偿的理论基础 | 第32-33页 |
| 3.2.3 实验结果 | 第33-35页 |
| 3.3 超高分辨OCT系统在工业领域的应用 | 第35-38页 |
| 3.3.1 对砂纸表面的测量 | 第35-36页 |
| 3.3.2 氧化铝材料的检测 | 第36-37页 |
| 3.3.3 ZnS颗粒形貌的检测 | 第37-38页 |
| 3.4 基于超高分辨OCT系统测量薄膜厚度 | 第38-43页 |
| 3.4.1 OCT测量薄膜厚度的理论基础 | 第38-39页 |
| 3.4.2 厚度约为400nm的聚酰亚胺薄膜测量结果 | 第39-41页 |
| 3.4.3 厚度约为600nm的聚酰亚胺薄膜测量结果 | 第41-42页 |
| 3.4.4 聚酰亚胺膜的平面伪彩图 | 第42-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-45页 |
| 4 基于受激辐射的谱域OCT系统的研制 | 第45-58页 |
| 4.1 研究受激辐射谱域OCT系统的意义 | 第45页 |
| 4.2 受激辐射谱域OCT系统的相关理论 | 第45-49页 |
| 4.2.1 自发辐射与受激辐射理论 | 第45-47页 |
| 4.2.2 调制解调技术 | 第47-49页 |
| 4.3 在现有的超高分辨OCT系统上的改进 | 第49-53页 |
| 4.4 分子特异性的探测 | 第53-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 5 总结 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-67页 |
| 作者简介 | 第67页 |
| 硕士期间发表论文 | 第67页 |