| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| ·研究的目的和意义 | 第7页 |
| ·阵列感应测井的发展现状 | 第7-9页 |
| ·阵列感应测井的国外现状 | 第7-9页 |
| ·阵列感应测井的国内现状 | 第9页 |
| ·金属体对感应测井的影响研究现状 | 第9-10页 |
| ·主要研究内容 | 第10-12页 |
| 第二章 阵列感应测井与有限元数值计算软件 COMSOL | 第12-24页 |
| ·感应测井原理 | 第12-18页 |
| ·双线圈系感应测井原理 | 第12-16页 |
| ·三线圈系感应测井理论 | 第16-18页 |
| ·有限元计算理论 | 第18-19页 |
| ·有限元数值计算软件 COMSOL | 第19-21页 |
| ·COMSOL 有限元计算流程 | 第20页 |
| ·有限元数值计算软件 COMSOL 的 AC/DC 模块 | 第20-21页 |
| ·阵列感应测井线圈系的结构 | 第21-23页 |
| ·小结 | 第23-24页 |
| 第三章 仪器内部金属体对阵列感应测量信号的影响研究 | 第24-53页 |
| ·两端金属体对阵列感应测量信号的影响研究 | 第24-29页 |
| ·基于 COMSOL 的模型建立 | 第24页 |
| ·网格剖分 | 第24-25页 |
| ·两端金属体的影响分析 | 第25-29页 |
| ·金属芯轴对阵列感应测量信号的影响研究 | 第29-38页 |
| ·模型的建立以及网格剖分 | 第29-30页 |
| ·金属芯轴对阵列感应测井数据影响分析 | 第30-38页 |
| ·屏蔽层对阵列感应测量信号的影响研究 | 第38-50页 |
| ·模型的建立和网格剖分 | 第38-39页 |
| ·发射线圈屏蔽层的影响研究 | 第39-46页 |
| ·发射和接收线圈都存在屏蔽层时的影响研究 | 第46-49页 |
| ·屏蔽层对阵列感应测量信号的影响结论 | 第49-50页 |
| ·仪器内部金属体的耦合对阵列感应测量信号的影响 | 第50-52页 |
| ·各金属耦合影响分析 | 第50-51页 |
| ·金属耦合后屏蔽层与线圈系距离变化的影响分析 | 第51-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第四章 仪器以外金属体对阵列感应测量信号的影响研究 | 第53-59页 |
| ·三维模型的建立与网格剖分 | 第53-54页 |
| ·模型的建立 | 第53页 |
| ·网格剖分 | 第53-54页 |
| ·金属体径向移动对阵列感应测量信号的影响研究 | 第54-55页 |
| ·金属体位于子阵列 8 处的径向影响分析 | 第54-55页 |
| ·金属体位于发射线圈处的径向影响分析 | 第55页 |
| ·金属体大小变化对阵列感应测量信号的影响研究 | 第55-58页 |
| ·小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第65-66页 |
| 详细摘要 | 第66-83页 |
