颗粒测试的图像处理
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-25页 |
| ·序言 | 第11-12页 |
| ·描述颗粒特征的两个基本参数 | 第12-14页 |
| ·颗粒大小 | 第12页 |
| ·颗粒形状 | 第12-14页 |
| ·测量颗粒大小和形状的方法和仪器 | 第14-17页 |
| ·筛分法 | 第14-15页 |
| ·沉降法 | 第15页 |
| ·米氏散射法 | 第15-16页 |
| ·动态光散射法 | 第16页 |
| ·库尔特法 | 第16-17页 |
| ·显微图像法 | 第17页 |
| ·研究显微图像法颗粒测量的意义 | 第17-18页 |
| ·颗粒测量的显微图像法特点 | 第18-19页 |
| ·颗粒测量的显微图像法进展 | 第19-21页 |
| ·颗粒图像的识别与分析处理 | 第21-24页 |
| ·图像的预处理 | 第21-23页 |
| ·图像的分割 | 第23-24页 |
| ·特征提取 | 第24页 |
| ·论文目的 | 第24-25页 |
| 第二章 显微图像法颗粒分析装置 | 第25-33页 |
| ·照明系统 | 第25-26页 |
| ·透射式照明 | 第25-26页 |
| ·落射式照明 | 第26页 |
| ·显微放大系统 | 第26-28页 |
| ·图像采集系统 | 第28-31页 |
| ·CCD | 第28-29页 |
| ·CMOS | 第29页 |
| ·飞点扫描设备 | 第29-30页 |
| ·鼓形扫描器 | 第30页 |
| ·其他图像输入设备 | 第30-31页 |
| ·图像处理系统 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 颗粒图像的数字处理 | 第33-48页 |
| ·图像信息 | 第33-34页 |
| ·图像区域的选择 | 第34页 |
| ·图像的二值化 | 第34-38页 |
| ·阈值二值化法 | 第34-36页 |
| ·形态学二值化法 | 第36-38页 |
| ·图像修正 | 第38页 |
| ·图像的分割 | 第38-40页 |
| ·图像检测的单位标定 | 第40页 |
| ·颗粒参数检测 | 第40-46页 |
| ·面积检测 | 第41-42页 |
| ·周长检测 | 第42-44页 |
| ·粒径检测 | 第44-45页 |
| ·圆形度检测 | 第45-46页 |
| ·图像颗粒的统计结果显示 | 第46页 |
| ·本章小结 | 第46-48页 |
| 第四章 颗粒图像的分割 | 第48-57页 |
| ·像素分类分割算法 | 第48页 |
| ·分水岭变换图像分割 | 第48-49页 |
| ·改进算法 | 第49-55页 |
| ·本算法中涉及的变换 | 第49-51页 |
| ·颗粒图像分割方法 | 第51-52页 |
| ·算法构建和模拟 | 第52-54页 |
| ·标识点的提取 | 第54页 |
| ·本算法的特点 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 第五章 显微图像法颗粒测量结果 | 第57-68页 |
| ·图像分辨率 | 第57页 |
| ·图像检测单位标定 | 第57-58页 |
| ·二值化及修正 | 第58-59页 |
| ·颗粒参数检测 | 第59-61页 |
| ·面积检测 | 第59-60页 |
| ·周长检测 | 第60-61页 |
| ·粒径检测 | 第61页 |
| ·圆形度检测 | 第61页 |
| ·检测结果及其显示 | 第61-64页 |
| ·试验结果分析 | 第64-66页 |
| ·检测过程中误差分析 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 结论与展望 | 第68-70页 |
| ·结论 | 第68-69页 |
| ·展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-76页 |
| 成果 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
