| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 LTE概述 | 第7-13页 |
| ·移动通信的发展 | 第7-8页 |
| ·LTE简介 | 第8-12页 |
| ·LTE概述 | 第8-10页 |
| ·LTE的重要技术特征 | 第10-11页 |
| ·LTE发展现状及发展前景 | 第11-12页 |
| ·论文研究的内容及意义 | 第12-13页 |
| 第二章 LTE的关键技术 | 第13-21页 |
| ·多址传输方式之OFDMA基本原理 | 第14-17页 |
| ·多址传输方式之概述 | 第15页 |
| ·OFDMA的基本原理及频谱效率 | 第15-16页 |
| ·OFDMA的主要技术优势 | 第16页 |
| ·TD-LTE上行与下行多址传输 | 第16-17页 |
| ·多天线系统 | 第17-19页 |
| ·下行多用户MIMO | 第18页 |
| ·上行虚拟MIMO | 第18-19页 |
| ·频分双工(FDD)与时分双工(TDD)技术 | 第19-21页 |
| 第三章 LTE测试中重要参数的指标分析 | 第21-31页 |
| ·LTE频段及信道安排 | 第23-24页 |
| ·工作频段 | 第23页 |
| ·信道带宽 | 第23-24页 |
| ·LTE基站射频测试要求 | 第24-25页 |
| ·发射机特性 | 第24-25页 |
| ·发射功率 | 第24页 |
| ·发射信号质量 | 第24-25页 |
| ·非期望辐射 | 第25页 |
| ·接收机特性 | 第25页 |
| ·接收机灵敏度 | 第25页 |
| ·邻道选择性和窄带阻塞 | 第25页 |
| ·LTE终端射频测试要求 | 第25-29页 |
| ·发射机特性 | 第25-28页 |
| ·发射功率之终端最大输出功率 | 第25-26页 |
| ·发射信号质量要求 | 第26-27页 |
| ·输出射频频谱辐射 | 第27-28页 |
| ·接收机特性 | 第28-29页 |
| ·参考灵敏度电平 | 第28页 |
| ·最大输入电平 | 第28页 |
| ·阻塞特性 | 第28-29页 |
| ·LTE测试中其它参数的要求 | 第29-31页 |
| 第四章 LTE测试结果研究 | 第31-47页 |
| ·测试环境的架设 | 第31-35页 |
| ·使用Agilent仪器的测试结果之研究 | 第32-33页 |
| ·使用R&S仪器的测试结果的研究 | 第33-34页 |
| ·Agilent与R&S测试环境及结果的比较 | 第34-35页 |
| ·测试项目 | 第35-47页 |
| ·终端输出功率控制机制(Power Control) | 第35-37页 |
| ·发射向量振幅误差(EVM) | 第37-40页 |
| ·EVM均衡器频谱平坦度(Spectral Flatness) | 第40-41页 |
| ·频谱发射波罩(SEM) | 第41页 |
| ·邻道泄露功率比(ACLR) | 第41-43页 |
| ·TX测试全图显示结果 | 第43页 |
| ·接收端的灵敏度(Sensitivity)测试 | 第43-47页 |
| 第五章 测试中的方案改善 | 第47-57页 |
| ·LTE模块 | 第47-48页 |
| ·测试中遇到问题的改善(Troubles shooting) | 第48-56页 |
| ·灵敏度(Sensitivity)的测试改善 | 第56-57页 |
| 第六章 总结 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-62页 |
