摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
致谢 | 第9-15页 |
1 Introduction | 第15-17页 |
2 LHC and ATLAS | 第17-29页 |
·Large Hadron Collider | 第17-21页 |
·Experiments | 第17-18页 |
·LHC beam | 第18-21页 |
·The A Toroid Large ApparatuS | 第21-29页 |
·Inner detector | 第21-22页 |
·Calorimeter | 第22-25页 |
·Muon spectrometer | 第25-27页 |
·Magnet system | 第27页 |
·Trigger system | 第27-28页 |
·Data processing and distribution | 第28-29页 |
3 Event reconstruction | 第29-34页 |
·Inner detector track | 第29页 |
·Track parameter resolutions | 第29页 |
·Primary vertex | 第29-30页 |
·Electron | 第30-31页 |
·Muon | 第31-32页 |
·Jet | 第32页 |
·Missing transverse energy | 第32-34页 |
4 Theory | 第34-47页 |
·Standard Model | 第34-38页 |
·Elementary particles | 第34-35页 |
·Interaction | 第35-36页 |
·Flavour mixing | 第36-38页 |
·Problems of Standard Model | 第38页 |
·Supersymmetry | 第38-41页 |
·R-parity violating | 第41-42页 |
·The single coupling dominance hypothesis | 第42页 |
·Signal | 第42页 |
·Current searches and results | 第42-44页 |
·K-factor | 第44-47页 |
5 Data and Monte Carlo | 第47-50页 |
·Dataset | 第47页 |
·Monte Carlo | 第47-48页 |
·Signal MC production | 第48-50页 |
6 Event Selection | 第50-57页 |
·Trigger | 第50页 |
·Electron Identification | 第50-52页 |
·Muon identification | 第52页 |
·Electron and muon isolation | 第52页 |
·Jet cleaning | 第52-53页 |
·Number of jet cut and E_T~(miss) cut | 第53-54页 |
·Event selection | 第54-57页 |
7 Background estimation | 第57-76页 |
·Physics Background | 第57-60页 |
·Pileup reweighting | 第57页 |
·Electron energy scale and smearing | 第57-59页 |
·Muon momentum scale and smearing | 第59-60页 |
·Photon fake background | 第60页 |
·Random matching to an inner detector track | 第60页 |
·Photon conversion | 第60页 |
·Matrix method for jet fake background estimation | 第60-61页 |
·Jet fake background in 2010 data analysis | 第61-66页 |
·Electron efficiency and fake rate | 第61-63页 |
·Muon efficiency and fake rate | 第63-64页 |
·Jet fake background estimation | 第64-66页 |
·Jet fake background in 2011 data analysis | 第66-73页 |
·Electron Efficiencies | 第67页 |
·Muon Efficiencies | 第67-72页 |
·Jet instrumental background in data | 第72-73页 |
·Systematic uncertainties | 第73-76页 |
8 Results | 第76-98页 |
·Statistics | 第76-78页 |
·Bayesian method | 第76-77页 |
·Frequentist Method | 第77-78页 |
·Peusdoexperiment | 第78页 |
·Expected limit | 第78页 |
·Low count experiment | 第78页 |
·2010 data results | 第78-88页 |
·Compared to the SM prediction | 第78-81页 |
·Sneutrino limits setting | 第81-88页 |
·2011 data results | 第88-98页 |
·Comparison with Standard Model | 第88-94页 |
·General production limits for new physics | 第94-98页 |
9 The conclusion | 第98-99页 |
Appendices | 第99-105页 |
A Sneutrino production and decay cross section calculation | 第99-101页 |
B Decay rate | 第101-102页 |
C t channel search | 第102-103页 |
D Mass spectrum in signal production | 第103-105页 |
References | 第105-110页 |