| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-13页 |
| ·课题背景说明 | 第9页 |
| ·课题任务说明 | 第9-10页 |
| ·论文结构描述 | 第10-11页 |
| ·本人的主要工作介绍 | 第11-13页 |
| 第二章 测试条件分析 | 第13-42页 |
| ·TDD-LTE系统架构 | 第13-14页 |
| ·概述 | 第13-14页 |
| ·功能描述 | 第14页 |
| ·TDD-LTE终端测试介绍 | 第14-15页 |
| ·TDD-LTE RRM终端一致性测试例要求分析 | 第15-42页 |
| ·空闲态移动性 | 第15-19页 |
| ·连接态移动性 | 第19-20页 |
| ·RRC连接移动控制 | 第20-23页 |
| ·定时和信令特性 | 第23-27页 |
| ·RRC_CONNECTED状态的UE测量过程 | 第27-36页 |
| ·测量性能要求 | 第36-42页 |
| 第三章 TDD-LTE RRM一致性测试平台的设计 | 第42-82页 |
| ·TDD-LTE RRM一致性测试平台概述 | 第42-44页 |
| ·TDD-LTE RRM一致性测试平台主要功能 | 第42页 |
| ·TDD-LTE RRM一致性测试平台性能技术指标 | 第42-43页 |
| ·TDD-LTE RRM一致性测试平台硬件架构设计 | 第43-44页 |
| ·TDD-LTE RRM测试例过程转化 | 第44-78页 |
| ·E-UTRAN TDD-TDD小区重选同频用例 | 第44-49页 |
| ·E-UTRAN TDD-TDD切换同频用例 | 第49-56页 |
| ·E-UTRAN TDD同频RRC重建 | 第56-61页 |
| ·E-UTRAN TDD基于竞争的随机接入测试 | 第61-69页 |
| ·TDD同频RSRP精度 | 第69-73页 |
| ·TDD同频RSRQ精度 | 第73-78页 |
| ·TDD-LTE RRM测试用例执行流程图 | 第78-82页 |
| ·SMT模块 | 第79-80页 |
| ·TTCN用例模块 | 第80-81页 |
| ·Scenario适配层模块 | 第81-82页 |
| 第四章 TDD-LTE RRM一致性测试系统的实现 | 第82-97页 |
| ·测试系统环境硬件实现 | 第82-85页 |
| ·系统模拟器 | 第82-84页 |
| ·射频仪表Instrument | 第84页 |
| ·射频接口箱RF Switcher | 第84-85页 |
| ·计算机PC | 第85页 |
| ·硬件接口实现 | 第85-86页 |
| ·以太网(LAN)连接 | 第85页 |
| ·射频信号连接 | 第85页 |
| ·电源供电 | 第85-86页 |
| ·参考信号(10M)和触发信号(Trigger) | 第86页 |
| ·测试用例实现 | 第86-93页 |
| ·E-UTRAN TDD-TDD小区重选同频用例的实现 | 第86-87页 |
| ·E-UTRAN TDD-TDD切换同频用例的实现 | 第87-88页 |
| ·E-UTRAN TDD同频RRC重建的实现 | 第88-90页 |
| ·E-UTRAN TDD基于竞争的随机接入测试的实现 | 第90-91页 |
| ·TDD同频RSRP精度的实现 | 第91-92页 |
| ·TDD同频RSRQ精度的实现 | 第92-93页 |
| ·自动测试系统及界面展示 | 第93-97页 |
| 第五章 总结与展望 | 第97-98页 |
| 参考文献 | 第98-100页 |
| 致谢 | 第100-101页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第101页 |
