近场分布光度测量技术的研究
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 符号清单 | 第7-10页 |
| 1 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 课题研究的背景 | 第10-11页 |
| 1.2 课题研究的目的和意义 | 第11页 |
| 1.3 课题研究的主要内容 | 第11-13页 |
| 2 光度测量原理 | 第13-17页 |
| 2.1 分布式光度测量 | 第13页 |
| 2.2 远场和近场分布光度测量 | 第13-15页 |
| 2.3 光线模型和光线数据(raydata) | 第15-16页 |
| 2.4 本章小结 | 第16-17页 |
| 3 亮度计及其校正方法 | 第17-30页 |
| 3.1 成像亮度计的结构和成像原理 | 第17-18页 |
| 3.2 成像亮度计校正 | 第18-29页 |
| 3.2.1 漏光(smear)现象 | 第18-21页 |
| 3.2.2 平场校正 | 第21-24页 |
| 3.2.3 几何畸变 | 第24-29页 |
| 3.2.4 其他影响因素分析 | 第29页 |
| 3.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 4 近场光度测量实验 | 第30-35页 |
| 4.1 被测样品的选取 | 第30-31页 |
| 4.2 近场测量系统的构建 | 第31-32页 |
| 4.3 系统的设计和测量要求 | 第32页 |
| 4.4 数据采集 | 第32-34页 |
| 4.5 本章小结 | 第34-35页 |
| 5 数据分析和模型建立 | 第35-54页 |
| 5.1 U点的空间坐标和像素坐标 | 第35-36页 |
| 5.2 U点的空间运动轨迹 | 第36-37页 |
| 5.3 变换矩阵 | 第37-38页 |
| 5.4 理论计算与实际结果的偏差 | 第38-40页 |
| 5.5 引起图像偏移的因素 | 第40-46页 |
| 5.5.1 成像过程中的透视关系 | 第40-42页 |
| 5.5.2 亮度计中心偏离两转轴交点 | 第42-43页 |
| 5.5.3 发光面未垂直中心轴线 | 第43-45页 |
| 5.5.4 水平转轴、竖直转轴和被测样品不共面 | 第45-46页 |
| 5.5.5 其他影响因素 | 第46页 |
| 5.6 解决方案 | 第46-51页 |
| 5.6.1 新的校正方法 | 第46-48页 |
| 5.6.2 新方案的实际效果 | 第48-51页 |
| 5.7 光线模型的建立 | 第51-52页 |
| 5.8 轮廓重合度和新方案的探讨 | 第52页 |
| 5.8.1 轮廓重合度 | 第52页 |
| 5.8.2 新方案 | 第52页 |
| 5.9 本章小结 | 第52-54页 |
| 6 总结 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 作者简历 | 第58页 |
