高频感应加热熔样过程的气泡去除与温度控制技术研究
| 提要 | 第1-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-15页 |
| ·引言 | 第7页 |
| ·X射线荧光分析技术 | 第7-8页 |
| ·X射线荧光分析样片的制备 | 第8-11页 |
| ·样片的制备方法 | 第8-10页 |
| ·熔融法制样分类 | 第10页 |
| ·高频感应加热方法的优点 | 第10-11页 |
| ·高频熔样机的研究和发展现状 | 第11-14页 |
| ·本文研究内容 | 第14-15页 |
| 第2章 高频熔样机基本原理和技术分析 | 第15-28页 |
| ·高频感应加热的原理 | 第15-16页 |
| ·高频熔样机系统的构建 | 第16-17页 |
| ·高频感应加热电源 | 第17-22页 |
| ·高频感应加热电源的组成 | 第17-18页 |
| ·感应加热电源的分类 | 第18-21页 |
| ·倍频式IGBT高频感应加热电源 | 第21-22页 |
| ·高频熔样机的气泡缺陷 | 第22-27页 |
| ·熔融样片的主要缺陷 | 第22-23页 |
| ·熔融试样中的气泡的形成和长大 | 第23-25页 |
| ·气泡在熔融体中的上升 | 第25-26页 |
| ·气泡从熔融体中的排出 | 第26页 |
| ·气泡缺陷的解决方案 | 第26-27页 |
| ·本章小节 | 第27-28页 |
| 第3章 温度测量与控制系统 | 第28-42页 |
| ·引言 | 第28页 |
| ·温度测量系统 | 第28-32页 |
| ·温度测量系统的基本结构 | 第28-29页 |
| ·温度测量方法的类型 | 第29-31页 |
| ·测温系统的搭建 | 第31-32页 |
| ·温度控制系统 | 第32-36页 |
| ·PID控制系统的组成 | 第32-34页 |
| ·数字PID控制器 | 第34-36页 |
| ·模糊PID控制器的设计 | 第36-41页 |
| ·控制对象的数学模型 | 第36-38页 |
| ·模糊PID控制系统原理 | 第38-40页 |
| ·模糊PID控制系统的控制策略 | 第40-41页 |
| ·控制程序的设计 | 第41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 高频熔样机除气装置的设计 | 第42-57页 |
| ·引言 | 第42页 |
| ·手动除气过程 | 第42-43页 |
| ·偏心振动机构除气装置 | 第43-48页 |
| ·偏心振动机构的力学模型 | 第44-45页 |
| ·偏心振动机构的运动分析 | 第45-48页 |
| ·偏心振动机构的实验分析 | 第48页 |
| ·曲柄摇杆机构除气装置 | 第48-56页 |
| ·曲柄摇杆机构无急回特性的条件 | 第49-51页 |
| ·无急回特性条件的曲柄摇杆机构的设计 | 第51-52页 |
| ·无急回特性曲柄摇杆机构的运动学分析及仿真 | 第52-55页 |
| ·无急回特性曲柄摇杆机构的实验分析 | 第55-56页 |
| ·本章小节 | 第56-57页 |
| 第5章 高频熔样机样片制备实验和分析 | 第57-64页 |
| ·引言 | 第57-58页 |
| ·熔融法制样 | 第58-64页 |
| ·熔融法制样过程 | 第58-61页 |
| ·X射线荧光分析 | 第61-63页 |
| ·结论 | 第63-64页 |
| 第6章 总结和展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 摘要 | 第69-71页 |
| Abstract | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
