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显微干涉术在测量微小表面几何参数中的关键技术研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-10页
1 绪论第10-25页
   ·本文的研究背景第10-11页
   ·国内外研究现状第11-22页
   ·本文研究采取的方案第22页
   ·本文主要研究工作和内容安排第22-25页
2 显微移相干涉术第25-43页
   ·移相干涉术基本原理第25-28页
   ·相移实现模式第28-32页
   ·相位提取算法第32-35页
     ·常见相位提取算法第32-33页
     ·OAF相位提取算法第33-35页
   ·相位解包第35-42页
     ·相位解包的基本原理第36-37页
     ·基于路径优先搜索的相位解包算法第37-42页
   ·本章小结第42-43页
3 显微移相干涉系统的设计第43-63页
   ·系统工作原理第43-44页
   ·干涉显微镜光学系统第44-46页
   ·相移控制驱动系统第46-57页
     ·压电陶瓷移相器第46-48页
     ·单组PZT微位移的非线性校正第48-52页
     ·移相器的标定第52-54页
     ·移相器非线性测量与校正实例第54-57页
   ·图像采集与处理系统第57页
   ·系统误差的分析与测试第57-61页
     ·系统各部分误差因素的影响第57-60页
     ·系统误差的测定第60-61页
   ·本章小结第61-63页
4 微小表面面形和球面曲率半径的测量研究第63-88页
   ·曲率半径的测量概述第63页
   ·条纹法第63-70页
     ·条纹的识别与处理第63-65页
     ·采样数据的处理算法第65-68页
     ·测量实例第68-69页
     ·误差分析第69-70页
   ·移相干涉法第70-81页
     ·测量原理第71-74页
     ·移相误差影响的分析与比较第74-79页
     ·测量实例第79-81页
     ·结论第81页
   ·虚光栅移相莫尔条纹法第81-87页
     ·测量原理第82-84页
     ·测量实例第84-87页
   ·本章小结第87-88页
5 光纤连接器端面顶点偏移和光纤高度的测量研究第88-102页
   ·概述第88-89页
   ·顶点偏移的测量方法第89-99页
     ·顶点-纤芯法测量原理第89-93页
     ·旋转π法测量原理第93-99页
     ·结论第99页
   ·光纤高度的测量方法第99-101页
   ·本章小结第101-102页
6 全文总结第102-106页
   ·本文所做的工作及创新点第102-105页
   ·有待研究和解决的问题第105-106页
致谢第106-107页
参考文献第107-118页
博士在读期间发表论文第118页
博士在读期间科研和获奖第118-119页
 科研项目第118-119页
 有关获奖第119页

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