嵌入式电子镇流器测试系统的设计与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·嵌入式电子镇流器测试系统研究的意义及应用价值 | 第9页 |
| ·本文研究的目标、研究现状以及所要解决的技术问题 | 第9-11页 |
| ·本项目研究目标 | 第9-10页 |
| ·本项目研究内容 | 第10页 |
| ·本项目的国内外研究现状 | 第10-11页 |
| ·本项目需要解决的问题 | 第11页 |
| ·论文章节编排 | 第11-13页 |
| 第二章 系统开发相关技术介绍 | 第13-26页 |
| ·嵌入式系统开发技术简介 | 第13-19页 |
| ·嵌入式系统 | 第13-14页 |
| ·嵌入式系统的特点 | 第14页 |
| ·嵌入式系统发展趋势 | 第14-15页 |
| ·嵌入式处理器 | 第15-17页 |
| ·嵌入式操作系统 | 第17-19页 |
| ·荧光灯的发光机理及工作特性 | 第19-22页 |
| ·荧光灯的结构组成 | 第19-20页 |
| ·荧光灯的发光机理 | 第20页 |
| ·荧光灯的主要特性 | 第20-22页 |
| ·镇流器发展过程及工作原理 | 第22-25页 |
| ·电感镇流器工作原理简介 | 第22-23页 |
| ·电子镇流器工作原理简介 | 第23页 |
| ·电子镇流器与电感镇流器的比较 | 第23-25页 |
| ·电子镇流器测试指标 | 第25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 测试系统的系统需求及硬件架构设计 | 第26-30页 |
| ·嵌入式电子镇流器测试系统的应用流程 | 第26页 |
| ·总体系统硬件架构及工作原理 | 第26-28页 |
| ·PCB 结构设计 | 第28-29页 |
| ·PCB 设计平台 | 第28页 |
| ·元件布局及PCB 整体结构工艺 | 第28-29页 |
| ·布线工艺与准则 | 第29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 硬件电路设计 | 第30-45页 |
| ·电参数计量模块设计 | 第30-34页 |
| ·电参数计量芯片选型 | 第30-33页 |
| ·电参数计量芯片应用示意图 | 第33页 |
| ·电参数计量芯片外围传感器电路 | 第33-34页 |
| ·嵌入式CPU 控制电路设计 | 第34-38页 |
| ·嵌入式CPU 选型 | 第34-36页 |
| ·STM32 CPU 在测试系统运用中的优越性 | 第36页 |
| ·主控CPU 系统电路设计 | 第36-38页 |
| ·人机对话接口电路设计 | 第38-40页 |
| ·矩阵键盘接口电路设计 | 第38-39页 |
| ·TFT 液晶接口电路设计 | 第39-40页 |
| ·与上位机的通信电路设计 | 第40-43页 |
| ·通信协议的选择 | 第40-41页 |
| ·MAX232 电平转换芯片特点 | 第41-42页 |
| ·单片机与PC 间通信接口电路设计 | 第42-43页 |
| ·对于系统电源及通信电缆的选择 | 第43-44页 |
| ·对于电子镇流器测试系统的电源要求 | 第43页 |
| ·开关电源在电子镇流器测试系统中的优势 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第五章 测试系统的软件设计与实现 | 第45-65页 |
| ·嵌入式测试控制端的开发工具及语言 | 第45页 |
| ·嵌入式测试控制端的RTX 实时操作系统架构简介 | 第45-47页 |
| ·测试系统控制端软件架构 | 第47-49页 |
| ·测试系统控制端任务流程及实现 | 第49-55页 |
| ·采集测试参数误差修正 | 第55-56页 |
| ·嵌入式测试控制端与PC 上位机之间的通信协议 | 第56-58页 |
| ·PC 上位机的软件开发流程 | 第58-59页 |
| ·PC 上位机的软件界面设计 | 第59-60页 |
| ·PC 上位机软件中关键算法的实现 | 第60-64页 |
| ·校验和（CheckSum）算法 | 第60-63页 |
| ·返回数据的解析算法 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 系统运行与测试 | 第65-67页 |
| ·嵌入式测试控制端运行与测试 | 第65页 |
| ·PC 上位机软件运行与测试 | 第65-67页 |
| 第七章 总结与展望 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
