高速接口GTL Buffer研究与设计
| 摘要 | 第1-12页 |
| ABSTRACT | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-18页 |
| ·课题研究背景 | 第13-15页 |
| ·国内外相关研究 | 第15页 |
| ·课题主要工作 | 第15-16页 |
| ·课题研究成果 | 第16-17页 |
| ·本文的组织 | 第17-18页 |
| 第二章 GTL缓冲器理论研究 | 第18-28页 |
| ·缓冲器基本理论 | 第18-21页 |
| ·输入缓冲器 | 第18-19页 |
| ·输出缓冲器 | 第19-20页 |
| ·双向缓冲器 | 第20页 |
| ·保护电路 | 第20-21页 |
| ·GTL缓冲器原理 | 第21-27页 |
| ·GTL接口标准分析 | 第21-22页 |
| ·GTL输入接口理论研究 | 第22-25页 |
| ·GTL输出接口理论研究 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 GTL输入接口电路设计 | 第28-41页 |
| ·CMOS数模混合设计技术 | 第28-31页 |
| ·CMOS数模混合设计的可行性 | 第28-29页 |
| ·CMOS数模混合设计的必要性 | 第29页 |
| ·CMOS数模混合设计的方法 | 第29-31页 |
| ·GTL输入接口功能设计 | 第31-32页 |
| ·设计要求分析 | 第31页 |
| ·GTL输入接口功能设计 | 第31-32页 |
| ·GTL输入接口功能设计 | 第32-40页 |
| ·主放大电路设计 | 第32-34页 |
| ·前级放大电路设计 | 第34-35页 |
| ·整体电路设计 | 第35-37页 |
| ·电路模拟结果 | 第37-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 GTL输出接口电路设计 | 第41-53页 |
| ·GTL输出接口资料研究 | 第41-44页 |
| ·专利资料 | 第41-42页 |
| ·学术资料 | 第42-43页 |
| ·产品手册 | 第43-44页 |
| ·GTL输出接口功能设计 | 第44-45页 |
| ·设计要求分析 | 第44页 |
| ·GTL输出接口功能设计 | 第44-45页 |
| ·GTL输出接口电路设计 | 第45-50页 |
| ·电路设计 | 第45-47页 |
| ·电路模拟结果 | 第47-48页 |
| ·改进后电路设计 | 第48页 |
| ·改进后电路模拟结果 | 第48-50页 |
| ·ESD保护电路设计 | 第50-52页 |
| ·ESD检测电路模型 | 第50页 |
| ·ESD保护电路设计 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 GTL接口版图设计 | 第53-61页 |
| ·数模混合电路版图设计技术 | 第53-56页 |
| ·叉指晶体管 | 第53页 |
| ·对称性与匹配 | 第53-55页 |
| ·ESD保护电路和抗闩锁效应 | 第55页 |
| ·版图中噪声的抑制 | 第55-56页 |
| ·GTL接口版图设计 | 第56-60页 |
| ·ESD保护电路版图设计 | 第56-57页 |
| ·GTL接口版图设计 | 第57-59页 |
| ·GTL接口版图模拟结果 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 GTL接口封装与测试 | 第61-68页 |
| ·GTL接口芯片封装 | 第61-63页 |
| ·封装技术概述 | 第61-62页 |
| ·GTL接口芯片封装 | 第62-63页 |
| ·GTL接口芯片测试环境 | 第63-66页 |
| ·测试环境概述 | 第64页 |
| ·GTL接口芯片测试板设计 | 第64-66页 |
| ·GTL接口芯片测试 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第七章 结束语 | 第68-70页 |
| ·全文工作总结 | 第68-69页 |
| ·未来工作展望 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第73页 |