半导体激光吸收光谱技术及对O2～-振动光谱参数的计算
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| §1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| §1.2 本文概述 | 第9-11页 |
| 第二章 高灵敏度激光光谱技术 | 第11-20页 |
| §2.1 光外差光谱技术 | 第11-15页 |
| §2.2 自动平衡差分探测技术 | 第15-16页 |
| §2.3 速度／浓度调制光谱技术 | 第16-20页 |
| 第三章 半导体激光光谱测量系统 | 第20-26页 |
| §3.1 DL100半导体激光器 | 第20-21页 |
| §3.2 F-P腔 | 第21页 |
| §3.3 波长测量 | 第21-23页 |
| §3.4 数据采集部分 | 第23-26页 |
| 第四章 光外差-浓度调制实验 | 第26-36页 |
| §4.1 实验装置 | 第26-30页 |
| §4.2 对N_2~*跃迁谱线的测量 | 第30-31页 |
| §4.3 光外差谱线线型研究 | 第31-36页 |
| 第五章 自动平衡差分-速度／浓度调制实验 | 第36-40页 |
| §5.1 实验装置 | 第36-37页 |
| §5.2 对N_2~+和N_2~*跃迁谱线的测量 | 第37-40页 |
| 第六章 O_2~-的理论研究 | 第40-48页 |
| §6.1 研究背景 | 第40-41页 |
| §6.2 RKR、LEVEL程序 | 第41-43页 |
| §6.3 O_2~-A-X态跃迁的理论计算 | 第43-48页 |
| 第七章 总结与展望 | 第48-49页 |
| 附录A RKR程序输入文件说明 | 第49-51页 |
| 附录B LEVEL程序输入文件说明 | 第51-54页 |
| 硕士期间发表论文 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
