| 第一章 绪论 | 第1-20页 |
| ·精密伺服转台系统故障诊断的意义 | 第11-12页 |
| ·电路板故障诊断的目的和意义 | 第12-13页 |
| ·故障诊断技术的发展概况及其历史回顾 | 第13-18页 |
| ·发展概述 | 第13-14页 |
| ·系统故障诊断方法的分类 | 第14-18页 |
| ·本文概要 | 第18-20页 |
| 第二章 电路板自动测试系统的设计 | 第20-42页 |
| ·电路板测试概述 | 第20-23页 |
| ·电路板测试的目的 | 第20-21页 |
| ·电路板测试的原理 | 第21-22页 |
| ·电路板测试的方法 | 第22-23页 |
| ·精密伺服转台系统中电路板层次结构模型 | 第23-35页 |
| ·精密伺服转台系统概述 | 第23-25页 |
| ·模拟控制板的工作原理和检测设计 | 第25-29页 |
| ·单片机控制板工作原理及检测方法 | 第29-33页 |
| ·测角控制电路板工作原理及检测方法 | 第33-35页 |
| ·电路板自动测试系统实现 | 第35-41页 |
| ·测试系统软硬件划分 | 第36页 |
| ·测试系统硬件实现 | 第36-38页 |
| ·测试系统软件实现 | 第38-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第三章 电路模板的BIT 改进 | 第42-54页 |
| ·BIT 技术概述 | 第42-44页 |
| ·BIT 技术的内涵 | 第43页 |
| ·BIT 设计原则、分类 | 第43-44页 |
| ·BIT 设计要求和关键技术 | 第44-45页 |
| ·设计要求 | 第44-45页 |
| ·关键技术 | 第45页 |
| ·利用BIT 技术对精密伺服转台系统中电路板的改进 | 第45-53页 |
| ·模拟控制板BIT 改进的方案设计 | 第45-48页 |
| ·模拟控制板BIT 改进的实现 | 第48-51页 |
| ·单片机控制板BIT 改进的实现 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 基于粗集的精密伺服转台系统故障诊断 | 第54-78页 |
| ·粗集概述 | 第54-56页 |
| ·粗集的特点 | 第54页 |
| ·粗集研究的基本问题 | 第54-56页 |
| ·粗集的定义 | 第56-57页 |
| ·知识、知识表达系统和决策表 | 第57-60页 |
| ·知识的基本概念 | 第57-58页 |
| ·知识的化简 | 第58-59页 |
| ·知识表达系统 | 第59-60页 |
| ·决策表 | 第60页 |
| ·基于粗集分类的精密伺服转台系统故障诊断 | 第60-77页 |
| ·基于粗集分类故障诊断的一般步骤 | 第61页 |
| ·精密伺服转台系统故障决策表的建立 | 第61-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第五章 总结与展望 | 第78-80页 |
| ·全文总结 | 第78页 |
| ·进一步工作的建议 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 在学期间发表论文 | 第85页 |