实时系统自检测与出错处理技术研究与实现
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
目录 | 第7-10页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
·课题背景 | 第10页 |
·可测试性及诊断技术的发展 | 第10-13页 |
·专题研究内容 | 第13页 |
·论文章节安排 | 第13-14页 |
第二章 可测试性技术研究 | 第14-24页 |
·概述 | 第14页 |
·可测试性技术 | 第14-15页 |
·BIT 技术 | 第15-16页 |
·常用BIT 设计技术 | 第16-23页 |
·数字 BIT 技术 | 第16-22页 |
·模拟 BIT 技术 | 第22-23页 |
·冗余 BIT 技术 | 第23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
第三章 出错处理技术研究 | 第24-37页 |
·定义 | 第24-26页 |
·故障相关定义 | 第24-25页 |
·故障模型 | 第25-26页 |
·出错原因 | 第26-27页 |
·错误类型 | 第27-29页 |
·按时间行为分类 | 第27-28页 |
·按输出行为分类 | 第28-29页 |
·故障和出错的抑制 | 第29页 |
·容错技术研究 | 第29-34页 |
·故障树分析 | 第29-31页 |
·冗余系统 | 第31-34页 |
·错误的综合处理技术 | 第34-36页 |
·故障隔离 | 第34页 |
·重试 | 第34-35页 |
·置换 | 第35-36页 |
·本章小结 | 第36-37页 |
第四章 控制计算机的内建自测试设计 | 第37-62页 |
·燃油管理控制计算机系统 | 第37-38页 |
·总体测试方案概述 | 第38-40页 |
·整机测试方案 | 第38-39页 |
·模块测试方案 | 第39-40页 |
·本文BIT 总体测试思想 | 第40页 |
·各模块的BIT 测试设计 | 第40-59页 |
·CPU 功能模块的BIT 测试设计 | 第40-48页 |
·中断功能检测 | 第48-52页 |
·RAM 功能模块的BIT 自检测设计 | 第52-56页 |
·内/外部信号转换功能模块的 BIT 设计 | 第56-57页 |
·外部通讯接口功能模块的BIT 测试设计 | 第57-59页 |
·FLASH 的功能模块的 BIT 测试设计 | 第59页 |
·BIT 算法实现以及应用 | 第59-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
第五章 控制计算机出错处理设计 | 第62-67页 |
·硬件看门狗电路 | 第62页 |
·软件看门狗设计 | 第62-63页 |
·看门狗定时器的设计 | 第63-65页 |
·程序跑飞控制 | 第65页 |
·程序回卷 | 第65-66页 |
·出错处理模块 | 第66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
第六章 系统功能测试与验证 | 第67-69页 |
·硬件环境 | 第67-68页 |
·宿主机环境 | 第67页 |
·目标机配置 | 第67-68页 |
·软件环境 | 第68页 |
·测试与分析 | 第68页 |
·本章小结 | 第68-69页 |
第七章 结束语 | 第69-71页 |
·全文总结 | 第69页 |
·贡献与创新 | 第69-70页 |
·不足和展望 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第75页 |
一、 个人简历 | 第75页 |
二、 研究生期间的工作简介 | 第75页 |
三、 论文发表 | 第75页 |
四、 获奖 | 第75页 |