半导体激光器光束质量评价方法与光束整形技术的研究
内容提要 | 第1-7页 |
第一章 绪论 | 第7-25页 |
·半导体激光器的发展概况 | 第8-11页 |
·激光二极管的光束质量评价 | 第11-12页 |
·LD 光束整形的必要性和国内外研究现状 | 第12-24页 |
·LD 光束整形的必要性 | 第12-13页 |
·LD 光束整形技术的国内外研究现状 | 第13-24页 |
·本论文的研究内容 | 第24-25页 |
第二章 激光二极管的光束质量评价方法 | 第25-45页 |
·引言 | 第25页 |
·常用的光束质量评价参数的特性分析 | 第25-41页 |
·远场发散角 | 第26页 |
·聚焦光斑尺寸 | 第26-27页 |
·衍射极限倍数因子 | 第27-32页 |
·环围能量比 | 第32-34页 |
·斯特列尔比(Strehl) | 第34-35页 |
·M~2 因子 | 第35-40页 |
·小结 | 第40-41页 |
·借助像散因子XS 评价激光二极管光束质量的方法 | 第41页 |
·光束质量评估的新方法 | 第41-44页 |
·小结 | 第44-45页 |
第三章 半导体激光束的整形技术 | 第45-54页 |
·引言 | 第45页 |
·基于柱面微透镜的准直系统 | 第45-49页 |
·柱面微透镜的设计原理 | 第45-49页 |
·设计实例 | 第49-53页 |
·快轴准直微透镜 | 第49-51页 |
·快轴和慢轴准直微透镜组 | 第51-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第四章 结论 | 第54-55页 |
参考文献 | 第55-60页 |
中文摘要 | 第60-63页 |
ABSTRACT | 第63-67页 |
致谢 | 第67页 |