| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| ·研究背景与意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状综述 | 第9-13页 |
| ·论文的研究内容与创新点 | 第13-16页 |
| ·论文的研究内容 | 第13页 |
| ·论文的创新点 | 第13-16页 |
| 第二章 非破坏性测量系统能力研究 | 第16-32页 |
| ·测量系统概述 | 第16-22页 |
| ·测量系统及其构成要素 | 第16-17页 |
| ·测量系统的统计特性 | 第17-20页 |
| ·测量系统的分类 | 第20-21页 |
| ·对测量系统的评价 | 第21-22页 |
| ·非破坏性测量系统能力研究 | 第22-29页 |
| ·典型测量系统能力研究 | 第22-27页 |
| ·非典型测量系统能力研究 | 第27-29页 |
| ·小结 | 第29-32页 |
| 第三章 破坏性测量系统能力研究 | 第32-44页 |
| ·破坏性测量系统概述 | 第32-34页 |
| ·破坏性测量系统的定义 | 第32页 |
| ·破坏性测量系统的分类 | 第32-33页 |
| ·破坏性测量系统的分析方法 | 第33-34页 |
| ·齐性样本法 | 第34-37页 |
| ·替代样本法 | 第37-39页 |
| ·非破坏性测量系统替代法 | 第39-40页 |
| ·破坏性测量系统替代法 | 第40-41页 |
| ·自相关法 | 第41-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第四章 测量系统分析的设计与分析策略 | 第44-70页 |
| ·测量系统分析中面临的问题 | 第44-45页 |
| ·测量人数、样品数及重复次数的选择 | 第45-56页 |
| ·重复性与再现性的区间估计 | 第45-50页 |
| ·m、n和r 对重复性误差估计的影响 | 第50-53页 |
| ·m、n和r 对再现性误差估计的影响 | 第53-56页 |
| ·m、n和r 的选择 | 第56页 |
| ·测量系统分析模型的适合性检验 | 第56-62页 |
| ·测量系统分析中异常值的处理 | 第62-68页 |
| ·异常值及其判定 | 第62页 |
| ·应用稳健回归方法M-估计消除异常值影响 | 第62-68页 |
| ·小结 | 第68-70页 |
| 第五章 基于过程能力要求的测量系统能力评定 | 第70-92页 |
| ·过程能力指数 | 第70-71页 |
| ·测量系统误差对过程能力的影响 | 第71-78页 |
| ·重复性与再现性误差对过程能力的影响 | 第71-78页 |
| ·基于过程能力要求的测量系统能力评定 | 第78-90页 |
| ·对过程不良品率要求下的重复性与再现性百分比要求 | 第78-83页 |
| ·对过程不良品率要求下的P/T % 和R& R % 的要求 | 第83-90页 |
| ·小结 | 第90-92页 |
| 第六章 实证研究 | 第92-108页 |
| ·X公司测量系统概述 | 第92页 |
| ·测量系统分析 | 第92-106页 |
| ·试验设计及试验数据 | 第92-93页 |
| ·分析及评定 | 第93-96页 |
| ·模型适合性检验 | 第96-99页 |
| ·异常值的处理 | 第99-106页 |
| ·结论 | 第106页 |
| ·小结 | 第106-108页 |
| 结束语 | 第108-110页 |
| 附录 | 第110-122页 |
| 参考文献 | 第122-129页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第129-131页 |
| 致谢 | 第131页 |