| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 1 文献综述 | 第11-33页 |
| ·引言 | 第11-12页 |
| ·纳米材料概述 | 第12-17页 |
| ·纳米材料的奇异特性 | 第12-14页 |
| ·纳米材料的分类 | 第14-15页 |
| ·纳米材料发展现状 | 第15-16页 |
| ·国外纳米技术的发展现状 | 第15-16页 |
| ·我国纳米技术的发展 | 第16页 |
| ·纳米材料的发展趋势 | 第16-17页 |
| ·纳米线概述 | 第17-20页 |
| ·纳米线的制备方法 | 第17-18页 |
| ·纳米线的应用 | 第18-20页 |
| ·模板法概述 | 第20-23页 |
| ·模板法的发展历史 | 第20-21页 |
| ·模板的种类及优点 | 第21-23页 |
| ·AAO 模板概述 | 第23-31页 |
| ·铝阳极氧化多孔膜的研究现状及发展前景 | 第23-25页 |
| ·铝阳极氧化多孔膜的结构及形成机理 | 第25-28页 |
| ·AAO 模板组装方法及应用 | 第28-31页 |
| ·本文研究的主要内容及意义 | 第31-33页 |
| 2 AAO 模板的制备与表征 | 第33-50页 |
| ·引言 | 第33-34页 |
| ·实验部分 | 第34-39页 |
| ·实验仪器及试剂 | 第34-35页 |
| ·实验装置 | 第35页 |
| ·AAO 模板的制备 | 第35-39页 |
| ·工艺流程 | 第35-37页 |
| ·铝表面预处理 | 第37-38页 |
| ·后处理 | 第38-39页 |
| ·结构表征 | 第39页 |
| ·结果与讨论 | 第39-49页 |
| ·电解液浓度对模板的影响 | 第39-41页 |
| ·二次氧化时间对模板的影响 | 第41-42页 |
| ·二次氧化电压对模板的影响 | 第42-44页 |
| ·表面粗糙程度对模板的影响 | 第44-49页 |
| ·结论 | 第49-50页 |
| 3 AAO 模板结合溶胶凝胶法制备氧化钕纳米线 | 第50-57页 |
| ·引言 | 第50-51页 |
| ·实验部分 | 第51-52页 |
| ·实验仪器 | 第51页 |
| ·实验试剂 | 第51页 |
| ·氧化钕纳米线阵列的制备 | 第51-52页 |
| ·结构表征 | 第52页 |
| ·结果与讨论 | 第52-56页 |
| ·氧化铝模板和纳米线的SEM 分析 | 第52-54页 |
| ·纳米线的TEM 分析 | 第54页 |
| ·XRD 和EDS 分析 | 第54-56页 |
| ·结论 | 第56-57页 |
| 4 AAO 模板结合直流电沉积法制备氢氧化钕纳米线 | 第57-63页 |
| ·引言 | 第57-59页 |
| ·实验部分 | 第59-60页 |
| ·实验仪器 | 第59页 |
| ·实验试剂 | 第59页 |
| ·AAO 模板结合直流电沉积法制备氢氧化钕纳米线 | 第59-60页 |
| ·结构表征 | 第60页 |
| ·结果与讨论 | 第60-62页 |
| ·氧化铝模板和纳米线的SEM 分析 | 第60-62页 |
| ·XRD 分析 | 第62页 |
| ·结论 | 第62-63页 |
| 5 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 个人简历 | 第71页 |
| 发表的学术论文 | 第71页 |