基于密度分析的回溯期非参数变点识别研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·问题的提出 | 第7-8页 |
| ·研究的目标和内容 | 第8-9页 |
| ·研究目标 | 第8页 |
| ·研究内容 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状和趋势 | 第9-11页 |
| ·本文研究方法及研究思路 | 第11-13页 |
| ·本文的研究方法 | 第11-12页 |
| ·本文的研究思路 | 第12-13页 |
| 第二章 控制图及变点识别的相关理论 | 第13-22页 |
| ·控制图的相关理论 | 第13-15页 |
| ·SPC 简述 | 第13-14页 |
| ·常规控制图技术 | 第14页 |
| ·多变量控制图 | 第14-15页 |
| ·有关变点的相关理论 | 第15-18页 |
| ·变点理论简述 | 第15-16页 |
| ·变点理论产生与发展 | 第16-17页 |
| ·变点识别的一般步骤 | 第17-18页 |
| ·寻找变点的方法 | 第18-21页 |
| ·寻找均值变点的方法 | 第18-19页 |
| ·寻找方差变点的方法 | 第19-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 基于非参数密度检验的相关理论 | 第22-34页 |
| ·非参数方法简介 | 第22页 |
| ·非参数检验概述 | 第22-25页 |
| ·K-S 检验 | 第25-27页 |
| ·核密度估计的相关理论 | 第27-33页 |
| ·核密度估计的基本原理 | 第27-30页 |
| ·核密度估计中宽窗的选择 | 第30-32页 |
| ·多元核密度估计 | 第32-33页 |
| ·核密度估计的发展及应用 | 第33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 基于密度分析的变点识别研究 | 第34-54页 |
| ·一元环境下变点的检测 | 第34-43页 |
| ·窗口方法简介 | 第34-35页 |
| ·性能分析方法 | 第35页 |
| ·检验步骤 | 第35-38页 |
| ·不同方法间的仿真结果性能比较 | 第38-41页 |
| ·不同窗口大小下的性能比较 | 第41-43页 |
| ·基于核密度估计的 K-S 检验方法拓展 | 第43-48页 |
| ·检验步骤 | 第45-46页 |
| ·仿真结果性能比较 | 第46-48页 |
| ·多元环境下变点的检测 | 第48-53页 |
| ·二元环境下变点检测的方法及步骤 | 第48-51页 |
| ·仿真结果 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 结论与展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
