| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| ·CMOS模拟集成电路背景及其意义 | 第10-11页 |
| ·CMOS运算放大器的基本结构 | 第11-12页 |
| ·低压低功耗运算放大器的基本问题 | 第12页 |
| ·论文的章节安排 | 第12-13页 |
| 第二章 CMOS放大器的设计基础 | 第13-24页 |
| ·MOS器件的基本特性 | 第13-19页 |
| ·MOS管的结构和IV特性 | 第13-15页 |
| ·MOS管的二级效应 | 第15-18页 |
| ·MOS管的小信号模型 | 第18-19页 |
| ·运算放大电路概述及其应用电路 | 第19-21页 |
| ·运算放大器性能指标 | 第21-24页 |
| ·开环增益(open loop dc gain) | 第21页 |
| ·开环带宽和增益带宽积(band width and Gain Bandwidth Product) | 第21-22页 |
| ·输出摆幅(output swing) | 第22页 |
| ·转换速率与建立时间(slew rate and settling time) | 第22页 |
| ·相位裕度(phase margin) | 第22页 |
| ·功耗(power dissipation) | 第22页 |
| ·噪声(noise) | 第22-24页 |
| 第三章 低电压低功耗CMOS运放设计技术 | 第24-35页 |
| ·弱反型区/亚阈值电路 | 第24-25页 |
| ·电平移位电路 | 第25-26页 |
| ·衬底驱动电路 | 第26-29页 |
| ·准浮栅技术 | 第29-32页 |
| ·自举共源-共栅电路 | 第32-33页 |
| ·电流模式电路 | 第33-35页 |
| 第四章 运算放大器的设计 | 第35-60页 |
| ·设计目标 | 第35页 |
| ·运放的结构选择 | 第35-36页 |
| ·输入级设计 | 第36-41页 |
| ·传统运算放大器的输入级设计 | 第36-37页 |
| ·轨对轨输入级设计 | 第37-38页 |
| ·输入级跨导恒定原理 | 第38-40页 |
| ·恒跨导输入级设计 | 第40-41页 |
| ·共源-共栅中间放大级 | 第41-47页 |
| ·折叠式共源-共栅(folded-cascode)差动级 | 第41-43页 |
| ·套筒式共源-共栅(telescopic-cascode)差动级 | 第43-44页 |
| ·低压宽摆幅共源-共栅电流镜电路 | 第44-46页 |
| ·中间放大级电路设计 | 第46-47页 |
| ·输出放大级设计 | 第47-49页 |
| ·共源输出放大器 | 第47-48页 |
| ·源极跟随器 | 第48页 |
| ·输出放大级的设计 | 第48-49页 |
| ·基准电路的设计 | 第49-52页 |
| ·带隙基准电压源 | 第49-50页 |
| ·PTAT基准电流源 | 第50-51页 |
| ·基准电流源的设计 | 第51-52页 |
| ·频率补偿电路设计 | 第52-60页 |
| ·反馈系统的稳定性 | 第52-53页 |
| ·运放的频率补偿 | 第53-58页 |
| ·运放频率补偿电路的设计 | 第58-60页 |
| 第五章 运算放大器的HSPICE仿真 | 第60-66页 |
| ·运算放大器的直流传输特性分析 | 第60-61页 |
| ·运算放大器输入和输出共模电压范围的分析 | 第61-62页 |
| ·运算放大器的增益和相位测量 | 第62-63页 |
| ·共模抑制比(CMRR)的测量 | 第63-64页 |
| ·阶跃响应特性 | 第64-65页 |
| ·放大器功耗的测量 | 第65-66页 |
| 第六章 结论与展望 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 附录 MOS器件模型参数 | 第73-78页 |
| 攻读硕士研究生期间发表的论文 | 第78页 |
