| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 图目录 | 第10-12页 |
| 表目录 | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-19页 |
| ·符号化电路分析的历史 | 第14-15页 |
| ·符号化分析方法的定义 | 第15-16页 |
| ·符号化分析法的分类 | 第16-17页 |
| ·符号化分析的潜在优势 | 第17-18页 |
| ·基于拓扑法的符号化电路分析法 | 第18页 |
| ·小结 | 第18-19页 |
| 第二章 基于拓扑法的符号化模拟电路分析原理与算法 | 第19-27页 |
| ·基于拓扑法的符号化模拟电路分析原理 | 第19-22页 |
| ·基本前提条件 | 第19-20页 |
| ·有向电路的图的构建规则 | 第20-21页 |
| ·举例 | 第21-22页 |
| ·基于拓扑法的符号化模拟电路分析器的算法 | 第22-26页 |
| ·二分判定图 | 第22-23页 |
| ·符号排序对仿真器性能的影响 | 第23-25页 |
| ·符号排序算法的分类 | 第25-26页 |
| ·小结 | 第26-27页 |
| 第三章 基于电路拓扑的符号排序基本概念 | 第27-42页 |
| ·介绍BJT 和MOS 小信号模型 | 第27-28页 |
| ·定义基本端口模块 | 第28页 |
| ·定义晶体管的共极状态 | 第28-31页 |
| ·共射（对应MOS 共源）极 | 第29页 |
| ·共基（对应MOS 共栅）极 | 第29页 |
| ·共集（对应MOS 共漏）极 | 第29页 |
| ·共射（对应MOS 共源）极--射极（对应MOS 源极）衰减 | 第29-30页 |
| ·共集-共射极 | 第30页 |
| ·共集-共基极 | 第30-31页 |
| ·定义直流偏置模块 | 第31-34页 |
| ·简单镜像电流源 | 第31页 |
| ·Beta-Helper 镜像电流源 | 第31-32页 |
| ·带负反馈的镜像电流源 | 第32-33页 |
| ·级联镜像电流源和Wilson 电流源 | 第33-34页 |
| ·定义功能模块 | 第34-38页 |
| ·共射（对应MOS 共源）极模块 | 第34-35页 |
| ·共基（对应MOS 共栅）极模块 | 第35-36页 |
| ·共集（对应MOS 共漏）极模块 | 第36页 |
| ·共集-共射极模块 | 第36-37页 |
| ·共集-共基极模块 | 第37-38页 |
| ·负载 | 第38-40页 |
| ·无源负载 | 第38页 |
| ·有源负载 | 第38-40页 |
| ·可能不能正确识别的部分电路 | 第40页 |
| ·小结 | 第40-42页 |
| 第四章 基于电路拓扑的启发式符号排序方法实现 | 第42-58页 |
| ·排序算法在符号化模拟电路仿真器中的作用 | 第42-43页 |
| ·排序算法的对象 | 第43-44页 |
| ·排序算法的数据结构 | 第44-45页 |
| ·介绍能识别电路功能模块的搜索算法 | 第45-49页 |
| ·识别镜像电流源结构 | 第46页 |
| ·识别晶体管的三种共极状态 | 第46-49页 |
| ·对功能模块重新排序算法设计 | 第49-52页 |
| ·对未能正确检测电路结构的晶体管的算法排序设计 | 第52页 |
| ·测试变量排序对仿真器影响的实验设计 | 第52-57页 |
| ·脚本自动测试不同符号排序的实验基本原理 | 第52-53页 |
| ·脚本自动测试不同符号排序的具体实现 | 第53-55页 |
| ·变量排序实验的优点和局限性 | 第55-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第五章 实验结果分析 | 第58-74页 |
| ·不同拓扑结构电路的实验结果 | 第58-72页 |
| ·符号排序实验的主要测试电路 | 第58-61页 |
| ·单个晶体管模型的内部变量排序 | 第61-64页 |
| ·两个晶体管模型的混合变量排序 | 第64-67页 |
| ·两个功能模块的混合变量排序 | 第67-70页 |
| ·所有晶体管模型的内部变量排序 | 第70-71页 |
| ·晶体管与相邻电阻、电容的混合变量排序 | 第71-72页 |
| ·较大规模模拟电路的仿真结果 | 第72-73页 |
| ·小结 | 第73-74页 |
| 第六章 结论和研究展望 | 第74-75页 |
| ·结论 | 第74页 |
| ·研究展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第78页 |