| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| ·引言 | 第11-12页 |
| ·大口径平面镜检测方法的发展现状 | 第12-17页 |
| ·直接检测法 | 第13-16页 |
| ·间接检测法 | 第16-17页 |
| ·本文的研究背景、主要内容及意义 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第2章 Ritchey-Common 与Skip-Flat 原理和精度分析 | 第19-46页 |
| ·引言 | 第19-20页 |
| ·Ritchey-Common 检测法 | 第20-39页 |
| ·检测原理 | 第20-22页 |
| ·精度分析 | 第22-39页 |
| ·平面镜上入射角的微量偏移对检测结果的影响 | 第23-29页 |
| ·瑞奇角的测量误差对检测结果的影响 | 第29-31页 |
| ·两个角度测量的数据处理 | 第31-39页 |
| ·Skip-Flat 检测法 | 第39-44页 |
| ·检测原理 | 第39-40页 |
| ·矩形平面镜倾斜角度的确定 | 第40-41页 |
| ·精度分析 | 第41-44页 |
| ·参考平面镜精度对检测结果的影响 | 第41-42页 |
| ·矩形平面镜长宽比对检测结果的影响 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第3章 大口径大长宽比矩形平面反射镜的检测 | 第46-58页 |
| ·引言 | 第46页 |
| ·平面镜的检测 | 第46-55页 |
| ·细磨阶段的检测 | 第46-47页 |
| ·粗抛光阶段的检测 | 第47-51页 |
| ·精抛光阶段的检测 | 第51-55页 |
| ·检测环境对结果的影响 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 第4章 结论与展望 | 第58-60页 |
| ·研究成果与创新 | 第58页 |
| ·结论 | 第58-59页 |
| ·展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 在学期间学术成果情况 | 第62-63页 |
| 指导教师及作者简介 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |