基于增量式光电编码器的自动扶梯多参数测试仪研究
摘要 | 第3-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
1 绪论 | 第9-14页 |
1.1 课题的背景与意义 | 第9页 |
1.2 自动扶梯测试仪的国内外发展状况 | 第9-11页 |
1.2.1 国内自动扶梯测试仪发展状况 | 第9-10页 |
1.2.2 国外自动扶梯测试仪发展状况 | 第10-11页 |
1.3 课题由来与研究目的 | 第11-12页 |
1.3.1 课题由来 | 第11页 |
1.3.2 课题研究目的 | 第11-12页 |
1.3.3 课题任务 | 第12页 |
1.4 本文章节组织 | 第12-14页 |
2 自动扶梯测量的理论基础 | 第14-19页 |
2.1 接触式测量原理 | 第14-16页 |
2.2 非接触式测量原理 | 第16-18页 |
2.3 两种测量方法的优缺点对比 | 第18页 |
2.4 本章小结 | 第18-19页 |
3 总体方案设计与精度分析 | 第19-24页 |
3.1 总体方案设计 | 第19-20页 |
3.1.1 接触式参数测量部件 | 第19-20页 |
3.1.2 实时显示部件 | 第20页 |
3.1.3 非接触式参数测量部件 | 第20页 |
3.2 接触式测试精度分析 | 第20-22页 |
3.2.1 测速分辨率分析 | 第21页 |
3.2.2 测速范围分析 | 第21页 |
3.2.3 速度测量误差分析 | 第21-22页 |
3.2.4 同步率误差分析 | 第22页 |
3.2.5 加速度误差分析 | 第22页 |
3.3 非接触式测量精度分析 | 第22-23页 |
3.4 本章小结 | 第23-24页 |
4 系统硬件设计 | 第24-35页 |
4.1 处理器 | 第24-27页 |
4.1.1 ARM处理器概述 | 第24-25页 |
4.1.2 Cortex‐M内核与指令集 | 第25-26页 |
4.1.3 Cortex‐M寄存器简介 | 第26-27页 |
4.2 薄膜行列式键盘 | 第27-29页 |
4.3 晶振电路设计 | 第29-30页 |
4.4 复位电路 | 第30-31页 |
4.5 通讯方案芯片选择 | 第31页 |
4.6 彩色显示屏接口电路设计 | 第31-33页 |
4.6.1 可变静态存储控制器 | 第32页 |
4.6.2 TFT液晶屏驱动控制器 | 第32-33页 |
4.7 最小系统 | 第33-34页 |
4.8 本章小结 | 第34-35页 |
5 系统软件设计 | 第35-48页 |
5.1 软件技术与工具 | 第35-38页 |
5.1.1 .NET技术 | 第35-37页 |
5.1.2 嵌入式开发环境 | 第37-38页 |
5.1.3 结构化编程与面向对象的开发模式 | 第38页 |
5.2 程序构成与流程图 | 第38-40页 |
5.2.1 接触式测量程序 | 第38-39页 |
5.2.2 非接触式测试程序 | 第39-40页 |
5.3 异步数据通信与数据校验 | 第40-42页 |
5.3.1 异步串行通信的格式 | 第40-41页 |
5.3.2 串行通信的波特率 | 第41页 |
5.3.3 串行通讯的传输方式 | 第41-42页 |
5.3.4 奇偶校验 | 第42页 |
5.3.5 循环冗余码校验 | 第42页 |
5.4 数据传输设计 | 第42-45页 |
5.4.1 数据传输方式 | 第42-43页 |
5.4.2 数据传输软件设计 | 第43页 |
5.4.3 数据传输协议设计 | 第43-44页 |
5.4.4 数据传输状态设计 | 第44-45页 |
5.5 数据显示 | 第45-47页 |
5.5.1 Teechart控件 | 第45页 |
5.5.2 数据解算过程 | 第45-47页 |
5.6 本章小结 | 第47-48页 |
6 测试结果与分析 | 第48-56页 |
6.1 第三方测试 | 第48-49页 |
6.2 扶梯参数曲线绘制 | 第49-50页 |
6.3 扶梯原始数据采集与分析 | 第50-53页 |
6.4 实测结果对比 | 第53-54页 |
6.5 非接触式测量部件测试结果 | 第54-55页 |
6.6 本章小结 | 第55-56页 |
7 结论与展望 | 第56-58页 |
致谢 | 第58-60页 |
参考文献 | 第60-62页 |
附录 | 第62页 |
A. 作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第62页 |
B. 作者在攻读硕士学位期间获得的科研成果 | 第62页 |
C. 作者在攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第62页 |