| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 密度检测技术现状 | 第11-17页 |
| 1.2.1 常见的密度检测方法 | 第11-15页 |
| 1.2.2 密度测量值的影响因素 | 第15页 |
| 1.2.3 密度计自身条件对测量结果造成的影响 | 第15-16页 |
| 1.2.4 音叉密度计 | 第16-17页 |
| 1.3 课题主要研究内容 | 第17-18页 |
| 1.4 论文结构 | 第18-19页 |
| 第2章 音叉密度计原理及相关知识介绍 | 第19-27页 |
| 2.1 音叉密度计密度检测原理 | 第19-20页 |
| 2.2 密度与频率关系的确定方法 | 第20页 |
| 2.3 AIP可视化建模 | 第20-21页 |
| 2.3.1 AIP简介 | 第20页 |
| 2.3.2 AIP特点 | 第20-21页 |
| 2.3.3 AIP建模 | 第21页 |
| 2.4 模态分析 | 第21-23页 |
| 2.5 相关协议介绍 | 第23-26页 |
| 2.5.1 Modbus协议 | 第23-25页 |
| 2.5.2 IIC协议 | 第25-26页 |
| 2.6 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 音叉密度计叉指辅助设计 | 第27-35页 |
| 3.1 音叉叉指模态分析 | 第27-30页 |
| 3.1.1 音叉密度计的叉指部分建模 | 第27-29页 |
| 3.1.2 音叉叉指部分模态分析 | 第29页 |
| 3.1.3 模态仿真结果 | 第29-30页 |
| 3.2 真实音叉叉指谐振频率测试 | 第30-32页 |
| 3.2.1 检测电路 | 第30-31页 |
| 3.2.2 测试结果 | 第31-32页 |
| 3.3 ANSYS模型参数修正 | 第32-34页 |
| 3.3.1 音叉叉指谐振频率的修正 | 第32-34页 |
| 3.3.2 梁的厚度对振型和固有频率的影响 | 第34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 音叉密度计及相关系统设计 | 第35-52页 |
| 4.1 音叉密度计技术指标 | 第35页 |
| 4.2 音叉密度计硬件系统设计 | 第35-43页 |
| 4.2.1 反馈采样电路 | 第36-37页 |
| 4.2.2 前置放大电路 | 第37页 |
| 4.2.3 施密特整形电路 | 第37-38页 |
| 4.2.4 激励驱动电路 | 第38-39页 |
| 4.2.5 单片机的选型 | 第39页 |
| 4.2.6 显示模块 | 第39页 |
| 4.2.7 铂电阻PT1000温度测量电路 | 第39-43页 |
| 4.3 音叉密度计系统软件设计 | 第43-45页 |
| 4.4 温度控制系统设计 | 第45-51页 |
| 4.4.1 温度控制系统的系统构成 | 第45-47页 |
| 4.4.2 温度控制系统工作原理 | 第47-48页 |
| 4.4.3 数字PID调节 | 第48-51页 |
| 4.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 试验及数据处理 | 第52-59页 |
| 5.1 音叉密度计测频校验 | 第52-53页 |
| 5.2 温控实验 | 第53-55页 |
| 5.3 音叉密度计密度-频率特性试验 | 第55-57页 |
| 5.3.1 密度-频率特性试验 | 第55页 |
| 5.3.2 密度-频率特性拟合 | 第55-57页 |
| 5.4 待测介质直径大小及音叉密度计浸入介质中的深度对频率影响 | 第57-58页 |
| 5.4.1 待测介质直径对频率的影响 | 第57-58页 |
| 5.4.2 音叉密度计浸入深度对频率的影响 | 第58页 |
| 5.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第6章 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 附录A PT1000分度表 | 第63-68页 |
| 附录B PT1000温度测量电路MATLAB拟合程序 | 第68-69页 |
| 附录C 温度控制系统原理图 | 第69-70页 |
| 附录D 音叉密度计系统 | 第70-74页 |
| 在学研究成果 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |