| 中文摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 缩略语 | 第10-11页 |
| 前言 | 第11-25页 |
| 研究现状、成果 | 第11-22页 |
| 研究目的、方法 | 第22-25页 |
| 一、应用在分子拥挤剂条件下制备的印迹微粒在毛细管电色谱中分离氧氟沙星对映异构体 | 第25-59页 |
| 1.1 引言 | 第25-26页 |
| 1.2 实验部分 | 第26-30页 |
| 1.2.1 试剂和仪器 | 第26页 |
| 1.2.2 分子印迹微粒的制备 | 第26-28页 |
| 1.2.3 CEC | 第28-29页 |
| 1.2.4 MIP微粒的表征 | 第29-30页 |
| 1.2.5 氮吸附实验 | 第30页 |
| 1.3 结果与讨论 | 第30-58页 |
| 1.3.1 S-氧氟沙星印迹颗粒的合成与讨论 | 第30-49页 |
| 1.3.2 CEC | 第49-58页 |
| 1.4 小结 | 第58-59页 |
| 二、大分子拥挤环境下的S-氧氟沙星印迹整体柱的制备及形态学研究 | 第59-79页 |
| 2.1 引言 | 第59-60页 |
| 2.2 实验部分 | 第60-64页 |
| 2.2.1 仪器 | 第60-61页 |
| 2.2.2 试剂 | 第61-62页 |
| 2.2.3 S-氧氟沙星印迹整体柱的制备 | 第62-63页 |
| 2.2.4 氮吸附实验 | 第63页 |
| 2.2.5 S-氧氟沙星印迹整体柱的色谱评价条件 | 第63-64页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第64-77页 |
| 2.3.1 S-氟沙星印迹整体柱中模板浓度和致孔剂对聚合物形态学的影响 | 第64-74页 |
| 2.3.2 致孔剂的极性改变对印迹整体住的影响 | 第74-77页 |
| 2.4 小结 | 第77-79页 |
| 结论 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-88页 |
| 参加科研情况说明 | 第88页 |
| 发表论文 | 第88-89页 |
| 综述 用于毛细管电色谱的印迹聚合物制备方法研究 | 第89-117页 |
| 综述参考文献 | 第110-117页 |
| 致谢 | 第117页 |
