| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-11页 |
| 1.1.1 课题研究背景 | 第9-10页 |
| 1.1.2 课题研究意义 | 第10-11页 |
| 1.2 课题相关研究现状 | 第11-16页 |
| 1.2.1 阻抗测量方法的研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.2 电阻测量方法的研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.3 成形信号技术研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 课题主要研究内容 | 第16页 |
| 1.4 论文组织及安排 | 第16-19页 |
| 第2章 基于成形信号和过采样提高电阻测量精度的新方法 | 第19-37页 |
| 2.1 电阻测量的基础理论 | 第19-22页 |
| 2.1.1 引言 | 第19页 |
| 2.1.2 电阻测量中的噪声特性及误差来源分析 | 第19-20页 |
| 2.1.3 电阻测量中的接线方法 | 第20-22页 |
| 2.1.4 电阻测量结果的评价参数 | 第22页 |
| 2.2 采用成形信号测量电阻的方法及原理研究 | 第22-30页 |
| 2.2.1 引言 | 第22-23页 |
| 2.2.2 成形信号方法介绍 | 第23页 |
| 2.2.3 成形信号提高ADC采集精度的可行性分析 | 第23-26页 |
| 2.2.4 原有叠加成形信号方法的局限性 | 第26-27页 |
| 2.2.5 直接采用成形激励信号提高电阻测量精度的原理 | 第27-29页 |
| 2.2.6 采用抬高预设电平的锯齿波信号提高电阻测量精度的原理 | 第29-30页 |
| 2.3 过采样技术 | 第30-35页 |
| 2.3.1 引言 | 第30页 |
| 2.3.2 过采样技术介绍 | 第30-32页 |
| 2.3.3 过采样技术提高测量系统的信噪比分析 | 第32-35页 |
| 2.4 本章小结 | 第35-37页 |
| 第3章 电阻测量系统的方案设计 | 第37-49页 |
| 3.1 基于DAQ采集卡的系统电路设计 | 第38-47页 |
| 3.1.1 微处理器NI myDAQ开发平台的介绍 | 第39-41页 |
| 3.1.2 基于LabVIEW的电阻测量系统设计 | 第41-42页 |
| 3.1.3 常规电阻真值的获取 | 第42-43页 |
| 3.1.4 激励信号产生模块 | 第43-44页 |
| 3.1.5 恒流源电路的参数配置 | 第44-46页 |
| 3.1.6 ADC采集电路模块 | 第46-47页 |
| 3.1.7 数据文件存储模块 | 第47页 |
| 3.2 本章小结 | 第47-49页 |
| 第4章 实验验证 | 第49-63页 |
| 4.1 引言 | 第49页 |
| 4.2 最小二乘法拟合测量值 | 第49-51页 |
| 4.3 仿真实验 | 第51-56页 |
| 4.3.1 实验参数设置及步骤 | 第51-53页 |
| 4.3.2 实验结果及讨论 | 第53-56页 |
| 4.4 实际实验 | 第56-61页 |
| 4.4.1 实验参数设置及步骤 | 第56-57页 |
| 4.4.2 利用锯齿波成形信号的实验结果及讨论 | 第57-60页 |
| 4.4.3 利用抬高电平的锯齿波成形信号的实验结果及讨论 | 第60-61页 |
| 4.5 本章小结 | 第61-63页 |
| 第5章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 本文总结 | 第63-64页 |
| 5.2 工作展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-71页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
