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X光机安检图像违禁物品的识别

摘要第8-9页
Abstract第9页
1 绪论第10-15页
    1.1 研究背景第10-11页
    1.2 国内外研究现状第11-13页
    1.3 研究目的和意义第13页
    1.4 研究内容第13-15页
2 X射线安检系统第15-25页
    2.1 X射线的特性第15-18页
        2.1.1 X射线第15页
        2.1.2 X射线荧光第15页
        2.1.3 特征X射线第15-17页
        2.1.4 X射线对物质的作用第17页
        2.1.5 X射线荧光分析第17-18页
    2.2 安检X光机工作流程第18页
    2.3 X射线分析仪的工作原理及构造第18-22页
        2.3.1 波长色散型第19-20页
        2.3.2 能量色散型第20-22页
    2.4 X射线安检系统各部分原理和作用第22-24页
        2.4.1 X射线球管第22-23页
        2.4.2 高压发生器第23-24页
        2.4.3 高压绝缘电缆第24页
    2.5 本章小结第24-25页
3 安检图像分割第25-39页
    3.1 安检图像分割的目的与意义第25-27页
    3.2 安检图像颜色空间第27-31页
        3.2.1 RGB颜色空间第28页
        3.2.2 HSV颜色空间第28-30页
        3.2.3 YCbCr颜色空间第30-31页
    3.3 图像分割方法第31-35页
        3.3.1 基于阈值选取的图像分割方法第31-32页
        3.3.2 基于边缘检测的图像分割方法第32-34页
        3.3.3 基于区域生成的图像分割方法第34-35页
    3.4 基于阈值选取和区域生长的安检图像分割方法第35-38页
        3.4.1 图像分割流程第35-36页
        3.4.2 阈值的选取第36-37页
        3.4.3 实验结果与分析第37-38页
    3.5 本章小结第38-39页
4 基于Zernike矩和傅里叶描述子的特征提取第39-52页
    4.1 傅里叶描述子法第39-44页
        4.1.1 傅里叶描述子简介第39-41页
        4.1.2 通过傅里叶系数提取形状特征第41-42页
        4.1.3 边界曲线的多边形近似算法的傅里叶描述子改进第42-44页
    4.2 Zernike矩第44-47页
        4.2.1 矩的定义第44-45页
        4.2.2 Zernike多项式第45-46页
        4.2.3 Zernike矩的不变性第46-47页
    4.3 基于改进傅里叶描述子和Zernike矩的违禁物识别第47-50页
        4.3.1 违禁物品识别流程第47-48页
        4.3.2 结果与分析第48-50页
    4.4 危险违禁物识别库的建立第50-51页
    4.5 本章小结第51-52页
5 总结与展望第52-54页
    5.1 本文工作总结第52-53页
    5.2 未来研究展望第53-54页
参考文献第54-58页
致谢第58页

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