摘要 | 第8-9页 |
Abstract | 第9页 |
1 绪论 | 第10-15页 |
1.1 研究背景 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
1.3 研究目的和意义 | 第13页 |
1.4 研究内容 | 第13-15页 |
2 X射线安检系统 | 第15-25页 |
2.1 X射线的特性 | 第15-18页 |
2.1.1 X射线 | 第15页 |
2.1.2 X射线荧光 | 第15页 |
2.1.3 特征X射线 | 第15-17页 |
2.1.4 X射线对物质的作用 | 第17页 |
2.1.5 X射线荧光分析 | 第17-18页 |
2.2 安检X光机工作流程 | 第18页 |
2.3 X射线分析仪的工作原理及构造 | 第18-22页 |
2.3.1 波长色散型 | 第19-20页 |
2.3.2 能量色散型 | 第20-22页 |
2.4 X射线安检系统各部分原理和作用 | 第22-24页 |
2.4.1 X射线球管 | 第22-23页 |
2.4.2 高压发生器 | 第23-24页 |
2.4.3 高压绝缘电缆 | 第24页 |
2.5 本章小结 | 第24-25页 |
3 安检图像分割 | 第25-39页 |
3.1 安检图像分割的目的与意义 | 第25-27页 |
3.2 安检图像颜色空间 | 第27-31页 |
3.2.1 RGB颜色空间 | 第28页 |
3.2.2 HSV颜色空间 | 第28-30页 |
3.2.3 YCbCr颜色空间 | 第30-31页 |
3.3 图像分割方法 | 第31-35页 |
3.3.1 基于阈值选取的图像分割方法 | 第31-32页 |
3.3.2 基于边缘检测的图像分割方法 | 第32-34页 |
3.3.3 基于区域生成的图像分割方法 | 第34-35页 |
3.4 基于阈值选取和区域生长的安检图像分割方法 | 第35-38页 |
3.4.1 图像分割流程 | 第35-36页 |
3.4.2 阈值的选取 | 第36-37页 |
3.4.3 实验结果与分析 | 第37-38页 |
3.5 本章小结 | 第38-39页 |
4 基于Zernike矩和傅里叶描述子的特征提取 | 第39-52页 |
4.1 傅里叶描述子法 | 第39-44页 |
4.1.1 傅里叶描述子简介 | 第39-41页 |
4.1.2 通过傅里叶系数提取形状特征 | 第41-42页 |
4.1.3 边界曲线的多边形近似算法的傅里叶描述子改进 | 第42-44页 |
4.2 Zernike矩 | 第44-47页 |
4.2.1 矩的定义 | 第44-45页 |
4.2.2 Zernike多项式 | 第45-46页 |
4.2.3 Zernike矩的不变性 | 第46-47页 |
4.3 基于改进傅里叶描述子和Zernike矩的违禁物识别 | 第47-50页 |
4.3.1 违禁物品识别流程 | 第47-48页 |
4.3.2 结果与分析 | 第48-50页 |
4.4 危险违禁物识别库的建立 | 第50-51页 |
4.5 本章小结 | 第51-52页 |
5 总结与展望 | 第52-54页 |
5.1 本文工作总结 | 第52-53页 |
5.2 未来研究展望 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-58页 |
致谢 | 第58页 |